一种使用太赫兹脉冲测量材料参数和材料厚度的方法

摘要

本发明公开了一种使用太赫兹脉冲测量材料参数和材料厚度的方法。该方法包括：测量得到参考信号和样品信号；从样品信号中提取第p次回波信号并获取对应的透射系数的实验值；测量得到样品厚度L的测量值；建立主峰/回波透射模型；计算第p次回波对应的透射系数计算值；计算第一材料电磁参数和第二材料电磁参数；计算材料参数总差值函数；如材料参数总差值函数满足预设条件，则将材料参数总差值函数所对应的样品厚度作为样品精确厚度，得到对应于样品厚度L的主峰对应的透射系数的计算值；计算得到对应的样品复折射率的实部和虚部。通过使用上述方法，可精确地确定光学厚样品的材料参数，还可同时测量太赫兹脉冲段的材料参数和厚度。