公开/公告号CN106788794A
专利类型发明专利
公开/公告日2017-05-31
原文格式PDF
申请/专利权人 北京邮电大学;
申请/专利号CN201710047217.1
申请日2017-01-22
分类号H04B17/10(20150101);H04B17/12(20150101);H04B17/15(20150101);G01R31/00(20060101);
代理机构北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙);
代理人孙翠贤;项京
地址 100876 北京市海淀区西土城路10号
入库时间 2023-06-19 02:27:27
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2017-06-23
实质审查的生效 IPC(主分类):H04B17/10 申请日:20170122
实质审查的生效
2017-05-31
公开
公开
机译: 在集成电路之间的切缝区域中提供一种测试系统的测试系统,该测试系统以晶片形式集成在基板上,并且该测试系统用于测量和/或测试系统中测试结构的参数
机译: 用于对生物测试样本中的一种或多种目标类型的目标分子存在进行测试的缓冲液的测试系统;用于测试生物测试样品中一种或多种目标类型的目标分子的存在的测试系统;以及靶向分子以促进对生物测试样品的一种或多种靶类型的靶分子的存在的测试的方法。
机译: 用于测试系统的方法,用于检测至少一种气体分析物的系统以及用于测试系统中的至少一种传输方式的方法。