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基于调频辐射光源的多传感器成像温度场测量方法及装置

摘要

本发明涉及一种基于调频辐射光源的多传感器成像温度场测量装置和方法,该装置包括:辐射测量设备和调频辐射光源;辐射测量设备包括多个不同光谱响应波段的面成像传感器;辐射测量设备用于在调频辐射光源关闭的状态下探测得到待测物体自身辐射的第一辐射强度以及在调频辐射光源开启的状态下探测得到第二辐射强度;第二辐射强度为调频辐射光源发出的经待测物体反射的辐射强度和待测物体自身的辐射强度之和;本发明提供的技术方案实现了在未知发射率情形下的温度场非接触在线测量,克服了现有辐射温度测试方法对发射率数据的依赖性、发射率假设模型的局限性缺陷,克服了现有辐射温度测试方法测温范围有限性和测温光谱局限性的缺陷。

著录项

  • 公开/公告号CN106768356A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-05-31

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 清华大学;

    申请/专利号CN201611111185.9

  • 发明设计人 符泰然;刘江帆;姜培学;

    申请日2016-12-06

  • 分类号G01J5/00(20060101);

  • 代理机构11002 北京路浩知识产权代理有限公司;

  • 代理人李相雨

  • 地址 100084 北京市海淀区清华园北京100084-82信箱

  • 入库时间 2023-06-19 02:20:31

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-06-23

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01J5/00 申请日:20161206

    实质审查的生效

  • 2017-05-31

    公开

    公开

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