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基于暗条纹逻辑判断的相位成像设备及方法

摘要

本申请提供了一种基于暗条纹逻辑判断的相位成像设备,包括光源装置、扩束准直元件、空间光调制器、透镜元件、阵列探测器以及图像生成装置,所述图像生成装置根据空间光调制器加载的多个相位掩膜和待测物体的相对相位取值构建参考库矩阵,根据阵列探测器记录的对应于每个相位掩膜下的待测物体的二维强度图像矩阵判别出每一幅二维强度图像矩阵中相邻像素点之间的暗条纹,再结合参考库矩阵获得相邻像素点之间的相位比率,根据预设的基准像素点和规划路径生成每一个像素点和基准像素点之间累乘比率,构建出待测物体的相位成像。本发明还提供了基于暗条纹逻辑判断的相位成像方法。该设备和方法计算复杂度低、相位重建精度高、具有全局最优性等优点。

著录项

  • 公开/公告号CN106706638A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-05-24

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京理工大学;

    申请/专利号CN201611152055.X

  • 发明设计人 俞文凯;熊安东;赵清;

    申请日2016-12-14

  • 分类号G01N21/84;

  • 代理机构北京商专永信知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人葛强

  • 地址 100081 北京市海淀区中关村南大街5号

  • 入库时间 2023-06-19 02:13:35

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-06-16

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N21/84 申请日:20161214

    实质审查的生效

  • 2017-05-24

    公开

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