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TEV局部放电带电检测装置的校验设备、方法及装置

摘要

本发明公开了一种TEV局部放电带电检测装置的校验设备、方法及装置。其中,该校验设备包括:脉冲发生器,用于发射标定信号;耦合装置,通过同轴RF电缆与一阻抗匹配的金属板相连,被测TEV传感器贴在金属板预定位置处;以及TEV检测仪主机,用于检测脉冲响应信号,其中,脉冲信号与标定信号的对比结果用于指示TEV局部放电带电检测装置的测试性能。本发明解决了相关技术无法对TEV局部放电带电检测装置进行现场校验的技术问题。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-06-06

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R35/00 申请日:20161212

    实质审查的生效

  • 2017-05-10

    公开

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