公开/公告号CN106643520A
专利类型发明专利
公开/公告日2017-05-10
原文格式PDF
申请/专利权人 哈尔滨工业大学深圳研究生院;
申请/专利号CN201611169900.4
申请日2016-12-16
分类号G01B11/02(20060101);G01B11/00(20060101);
代理机构44217 深圳市顺天达专利商标代理有限公司;
代理人郭伟刚
地址 518055 广东省深圳市南山区西丽大学城哈尔滨工业大学校区
入库时间 2023-06-19 02:03:52
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2017-10-10
实质审查的生效 IPC(主分类):G01B11/02 申请日:20161216
实质审查的生效
2017-05-10
公开
公开
机译: 具有棱镜的位移测量系统,用于两个或多个光栅之间的位移测量
机译: 用于确定两个物体相互位移的光电测量系统,在反射的测量材料上布置了刻度栅尺,对应于传感板上的参考光栅轨迹
机译: 考虑到衍射光栅的制造,一种用于自动获得小位移,固定的装置