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一种用于光栅位移测量系统的位移计算方法

摘要

一种用于光栅位移测量系统的位移计算方法,包括以下步骤:S1)通过DSP对双路非正交正弦位移信号进行同步采样,获得双路非正交正弦信号数据;S2)根据相关原理计算出双路非正交正弦信号数据的相位差值;S3)根据相位差值,使用非整周期部分信号细分算法,计算出非整周期部分信号所包含的位移量;以及S4)根据整周期计数值计算出整周期部分信号所包含的位移量,加上上述非整周期部分信号所包含的位移量,计算出总位移量。实施本发明提供的双路非正交位移信号计算位移量的方法,减小了位移信号由于非正交带来的位移测量误差,提高了位移测量精度。

著录项

  • 公开/公告号CN106643520A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-05-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 哈尔滨工业大学深圳研究生院;

    申请/专利号CN201611169900.4

  • 发明设计人 刘守斌;毕江林;束名扬;

    申请日2016-12-16

  • 分类号G01B11/02(20060101);G01B11/00(20060101);

  • 代理机构44217 深圳市顺天达专利商标代理有限公司;

  • 代理人郭伟刚

  • 地址 518055 广东省深圳市南山区西丽大学城哈尔滨工业大学校区

  • 入库时间 2023-06-19 02:03:52

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-10-10

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B11/02 申请日:20161216

    实质审查的生效

  • 2017-05-10

    公开

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