一种单模光纤的单模态衰减谱的测试方法

摘要

本发明公开了一种单模光纤的单模态衰减谱的测试方法，包括如下步骤：提供一段长度为L1的截止波长较小的单模光纤F1；并将光纤F1打ΦD1cm*X+ΦD2cm*Y的圈，其中D1和D2分别为打圈直径，X和Y分别为打圈个数；将待测单模光纤F3与所述单模光纤F1熔接；在单模光纤F3上截断，采用截断法测试待测大有效面积高截止波长单模光纤F3的衰减谱。通过本发明方法，可以基于常规光纤衰减检测设备以及容易获得的测试资源，对高截止波长单模光纤的高阶模式进行滤除，以获得低于其截止波长的一定波长范围内的单模状态衰减谱，可基于该衰减谱进行多种光纤性能的测试和计算。