首页> 中国专利> 一种利用纤芯失配干涉结构测量折射率的方法

一种利用纤芯失配干涉结构测量折射率的方法

摘要

本发明提供了一种利用纤芯失配干涉结构测量折射率的方法,所述方法包括如下步骤:a)搭建纤芯错位熔接干涉结构,所述纤芯错位熔接干涉结构包括依次连接的泵浦源,波分复用器,增益光纤,第一单模光纤,第二单模光纤,第三单模光纤和光谱分析仪;b)对第一单模光纤,第二单模光纤和第三单模光纤进行光纤错位熔接;c)计算待测溶液的折射率:针对浓度未知的溶液,在温度与标定温度相同的条件下,将纤芯失配结构浸泡于溶液中,得到纤芯失配结构对外界折射率条件变化的灵敏度,通过逐渐增加浓度的大小,记录梳状谱移动的长度,根据漂移量通过以下公式可以推断出该溶液的折射率:λ=aR+b,其中R为折射率浓度,λ为变化波长,a,b为常数。

著录项

  • 公开/公告号CN106404718A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-02-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京信息科技大学;

    申请/专利号CN201610741672.7

  • 申请日2016-08-26

  • 分类号G01N21/45;G01D5/353;

  • 代理机构北京律恒立业知识产权代理事务所(特殊普通合伙);

  • 代理人顾珊

  • 地址 100085 北京市海淀区清河小营东路12号北京信息科技大学光电学院

  • 入库时间 2023-06-19 01:31:14

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-11-29

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01N21/45 申请公布日:20170215 申请日:20160826

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2017-03-15

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N21/45 申请日:20160826

    实质审查的生效

  • 2017-02-15

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号