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一种开关柜真空断路器寿命评估方法

摘要

本发明公开了一种开关柜真空断路器寿命评估方法,是一种基于统计断路器在失效时放电量大小对真空断路器寿命评估方法。该方法通过统计某一型号的真空断路器在放电失效时的放电量数据,建立基于Weibull分布下的真空断路器寿命评估模型,利用极大似然函数对Weibull函数中未知参数进行求解,借助MATLAB对极大似然函数进行迭代求解,最后将该解带入Weibull分布中,得到关于真空断路器的寿命评估曲线,根据放电量监测信息对真空断路器寿命进行及时评估。基于统计放电量下的Weibull分布函数能够及时反映断路器绝缘状态信息。该方法简单有效,能够及时反映开关柜真空断路器运行状态。

著录项

  • 公开/公告号CN106371008A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-02-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN201610809833.1

  • 申请日2016-09-08

  • 分类号G01R31/327(20060101);H01H33/66(20060101);G06F17/50(20060101);

  • 代理机构50102 重庆市恒信知识产权代理有限公司;

  • 代理人刘小红

  • 地址 028000 内蒙古自治区通辽市霍林河大街西段2080号

  • 入库时间 2023-06-19 01:28:23

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-03-01

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R31/327 申请日:20160908

    实质审查的生效

  • 2017-02-01

    公开

    公开

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