一种OLED Mura补偿的最高亮度优化方法及装置

摘要

本发明公开了一种OLED Mura补偿的最高亮度优化方法及装置。其中，所述方法包括：输入OLED面板亮度矩阵；将所述OLED面板亮度矩阵进行分区；采集每个所述分区的采样点的亮度值；对所述采样点两两间进行计算，以得到其新的亮度值；以所述采样点位置及所述新的亮度值为基础计算目标亮度，以得到目标亮度矩阵；输出所述OLED面板的目标亮度矩阵。通过上述方式，本发明能够在一定程度上提高亮度，同时减少Mura现象。

说明书

技术领域

本发明涉及图像处理技术领域，特别是涉及一种OLED Mura补偿的最高亮度优化方法及装置。

背景技术

随着显示器的发展，图像质量越来越被消费者所看重，因此各种可以提升显示效果的图像算法得到了广泛的应用。而在图像的生成、传输和变换过程中，由于多种因素的影响，总会造成图像质量的下降，因此产生了图像处理技术。早期的改变图像质量的方法主要是改善图像的明暗清晰程度，也即是改善图像的对比度，通过修整给定图像的灰度来实现，但有些现有技术改善图像的同时，也同时会降低图像亮度。

发明内容

本发明主要解决的技术问题是提供一种OLED Mura补偿的最高亮度优化方法及装置，能够在一定程度上提高亮度，同时减少Mura现象。

为解决上述技术问题，本发明采用的一个技术方案是：提供一种OLED(Organic Light-Emitting Diode，有机发光二极管)Mura(日本派生词，指显示器亮度不均匀,造成各种痕迹的现象)补偿的最高亮度优化方法，所述方法包括：输入OLED面板亮度矩阵；将所述OLED面板亮度矩阵进行分区；采集每个所述分区的采样点的亮度值；对所述采样点两两间进行计算，以得到其新的亮度值；以所述采样点位置及所述新的亮度值为基础计算目标亮度，以得到目标亮度矩阵；输出所述OLED面板的目标亮度矩阵

其中，所述对所述采样点两两间进行计算，以得到其新的亮度值包括：对所述采样点两两间进行梯度限制算法计算，以得到其新的亮度值。

其中，所述以所述采样点位置及所述新值为基础计算目标亮度，以得到目标亮度矩阵包括：利用反距离权重法对所述采样点位置的所述新的亮度值进行计算，获得目标亮度。

其中，所述采集每个所述分区的采样点的亮度值包括：对每个所述分区取分区的亮度值最小值。

其中，所述采集每个所述分区的采样点的亮度值还包括：对每个所述分区过滤坏点及亮点后取采样点的亮度值。

为解决上述技术问题，本发明采用的另一个技术方案是：提供一种OLED Mura补偿的最高亮度优化装置，其特征在于，包括：输入模块，用于输入OLED面板亮度矩阵；分区模块，用于将所述OLED面板亮度矩阵进行分区；采集模块，用于采集每个所述分区的采样点；计算模块，用于对所述采样点两两间进行计算，以得到其新的亮度值；亮度模块，用于以所述采样点位置及所述新的亮度值为基础计算目标亮度分布，以得到目标亮度矩阵；输出模块，用于输出所述OLED面板的目标亮度矩阵。

其中，所述计算模块具体用于对所述采样点两两间进行梯度限制算法计算，以得到其新的亮度值。

其中，所述目标亮度分布计算模块具体用于利用反距离权重法对所述采样点位置的所述新的亮度值进行计算，获得目标亮度。

其中，所述采集模块还用于对每个所述分区取分区的亮度值最小值和对每个所述分区过滤坏点及亮点后取采样点的亮度值。

以上方案，显示设备获得待处理的OLED面板亮度矩阵，将OLED面板亮度矩阵进行分区并采集每个分区的采样点的亮度值，然后对采样点两两间进行计算以得到该采样点的新的亮度值，接着以该采样点位置及新的亮度值为基础计算目标亮度以得到目标亮度矩阵，最后显示设备获得OLED面板的目标亮度矩阵，实现了图像亮度在一定程度上的提高，同时减少Mura现象。

附图说明

图1是本发明OLED Mura补偿的最高亮度优化方法一实施方式的流程示意图；

图2是图1所示实施方式中进行图像分区的举例示意图；

图3是本发明OLED Mura补偿的最高亮度优化方法另一实施方式的流程示意图；

图4是图3所示实施方式中进行计算目标亮度值的举例示意图；

图5是本发明OLED Mura补偿的最高亮度优化装置一实施方式的结构示意图；

图6是本发明显示设备另一实施方式的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施方式对本发明进行详细说明。

请参阅图1，图1是本发明OLED Mura补偿的最高亮度优化方法一实施方式的流程示意图。需注意的是，若有实质上相同的结果，本发明的方法并不以图1所示的流程顺序为限。如图1所示，该方法包括如下步骤：

S101：输入OLED面板亮度矩阵。

S102：将OLED面板亮度矩阵进行分区。

其中，分区是指对待处理的图像进行横向和纵向的划分。一般情况下，分区不能分的太多，会影响运算速度；分区亦不可以分的太少，会使运算结果不够精确，影响局部的亮度。可选地，可以把图像分为10*10个分区，如图2所示。

S103：采集每个分区的采样点的亮度值。

其中，采样点取分区最小值，而且会过滤掉坏点及亮点。

S104：对采样点两两间进行计算，以得到其新的亮度值。

其中，可以采用梯度限制算法对采样点进行计算。

S105：以采样点位置及新的亮度值为基础计算目标亮度，以得到目标亮度矩阵。

其中，可以采用双线性差值法计算目标亮度矩阵。

S106：输出OLED面板的目标亮度矩阵。

其中，由显示设备输出最终的OLED面板亮度矩阵，并显示处理后的OLED面板亮度矩阵的图像。

以上方案，显示设备获得待处理的OLED面板亮度矩阵，将OLED面板亮度矩阵进行分区并采集每个分区的采样点的亮度值，然后对采样点两两间进行计算以得到该采样点的新的亮度值，接着以该采样点位置及新的亮度值为基础计算目标亮度以得到目标亮度矩阵，最后显示设备获得OLED面板的目标亮度矩阵，实现了图像亮度在一定程度上的提高，同时减少Mura现象。

请参阅图3，图3是OLED Mura补偿的最高亮度优化方法另一实施方式的流程示意图。本实施例中，该方法包括以下步骤：

S301：输入OLED面板亮度矩阵。

可如上S101所述，在此不作赘述。

S302：将OLED面板亮度矩阵进行分区。

可如上S102所述，在此不作赘述。

S303：采集每个分区的采样点的亮度值，对每个分区取分区的亮度值最小值及对每个分区过滤坏点及亮点后取采样点的亮度值。

其中，坏点是指液晶屏显示黑白两色和红、黄、蓝三原色下所显示的子像素点，亮点是指由于亮斑部位的屏幕内部反光板受到外力压迫或者受热产生轻微变形所致的液晶显示屏亮斑。

S304：对采样点两两间进行梯度限制算法计算，以得到其新的亮度值。

其中，梯度限制算法也即是梯度下降法，也称为最速下降法，计算过程是沿梯度下降/上升的方向求解极小值/极大值。

在其中一个实施方式中，假设，A_lum为其中一个采样点A点的亮度值，A_x、A_y为A点的位置坐标，B_lum为另一个采样点B点的亮度值，B_x、B_y为B点的位置坐标，梯度限制值Grad是给定的，梯度限制公式为：若采样点A点的亮度值大于采样点B点的亮度值，则利用梯度限制公式计算出一个新的采样点A点的亮度值。

S305：利用反距离权重法对采样点位置的新的亮度值进行计算，获得目标亮度。

其中，反距离权重(Inverse Distance Weighting，IDW)法也即是反距离权重插值法，是使用一组采样点的线性权重组合来确定像元值。其中，权重是一种反距离函数，进行插值处理的表面应当是具有局部因变量的表面，此方法假定所映射的变量因受到与其采样位置间的距离的影响而减小。在其中一个应用场景中，例如，为分析零售网点而对购电消费者的表面进行插值处理时，在较远位置购电影响较小，这是因为人们更倾向于在家附近购物。

反距离权重法中，可以是两点权重法，也可以是三点权重法。

在其中一个实施方式中，如图4所示，三个空心圆点是已知的采样点，V1、V2、V3是三个空心圆点的亮度值，实心圆点是待计算的采样点，V0是实心圆点的亮度值，a、b、c分别是三个空心圆点到实心圆点的距离。V1、V2、V3的权重分别是(1/a)²、(1/b)²、(1/c)²，归一化得：weight1＝b²c²/(b²c²+a²c²+a²b²)；weight2＝a²c²/(b²c²+a²c²+a²b²)；weight3＝a²b²/(b²c²+a²c²+a²b²)；其中，weight1、weight2、weight3分别是三个空心采样点V1、V2、V3的归一化值，则实心圆点的亮度值为V0＝V1×weight1+V2×weight2+V3×weight3。

S306：输出OLED面板的目标亮度矩阵。

可如上S106所述，在此不作赘述。

以上方案，显示设备获得待处理的OLED面板亮度矩阵，将OLED面板亮度矩阵进行分区并采集每个分区的采样点的亮度值，然后对采样点两两间进行计算以得到该采样点的新的亮度值，接着以该采样点位置及新的亮度值为基础计算目标亮度以得到目标亮度矩阵，最后显示设备获得OLED面板的目标亮度矩阵，实现了图像亮度在一定程度上的提高，同时减少Mura现象。

请参阅图5，图5是本发明OLED Mura补偿的最高亮度优化装置一实施方式的结构示意图。本实施例中，该OLED Mura补偿的最高亮度优化装置50为上述实施例中的OLED Mura补偿的最高亮度优化装置，该OLED Mura补偿的最高亮度优化装置50包括输入模块51、分区模块52、采集模块53、计算模块54、亮度模块55及输出模块56。

输入模块51用于输入OLED面板亮度矩阵。

分区模块52用于将所述OLED面板亮度矩阵进行分区。

采集模块53用于采集每个分区的采样点。

计算模块54用于对采样点两两间进行计算，以得到其新的亮度值。

亮度模块55用于以采样点位置及新的亮度值为基础计算目标亮度分布，以得到目标亮度矩阵。

输出模块56用于输出OLED面板的目标亮度矩阵。

可选地，采集模块53还用于对每个所述分区取分区的亮度值最小值和对每个所述分区过滤坏点及亮点后取采样点的亮度值。

可选地，计算模块54具体用于对采样点两两间进行梯度限制算法计算，以得到其新的亮度值。

可选地，亮度模块55具体用于利用反距离权重法对采样点位置的新的亮度值进行计算，获得目标亮度。

可选地，Mura区域位于OLED面板的任意位置。

请参阅图6，图6是本发明显示设备另一实施方式的结构示意图。该设备可以执行上述方法中OLED Mura补偿的最高亮度优化装置执行的步骤。相关内容请参见上述方法中的详细说明，在此不再赘叙。

本实施例中，该设备包括：处理器61、与处理器61耦合的存储器62及显示器63。

存储器62用于存储程序、处理器51执行的指令以及接收到的消息等。

显示器63显示处理后的OLED面板亮度矩阵的图像。

处理器61还用于将OLED面板亮度矩阵进行分区；采集每个分区的采样点的亮度值；对采样点两两间进行计算，以得到其新的亮度值；以述采样点位置及新值为基础计算目标亮度，以得到目标亮度矩阵。

可选地，处理器61执行对每个分区取分区的亮度值最小值和对每个分区过滤坏点及亮点后取采样点的亮度值。

可选地，处理器61执行对采样点两两间进行梯度限制算法计算，以得到其新的亮度值。

可选地，处理器61执行以采样点位置及新亮度值为基础，利用反距离权重法对采样点位置的新的亮度值进行计算，获得目标亮度。

可选地，处理器61执行在OLED面板的任意位置寻找Mura区域。

以上方案，显示设备输入待处理的OLED面板亮度矩阵，存储器将OLED面板亮度矩阵进行分区并采集每个分区的采样点的亮度值，然后对采样点两两间进行计算以得到该采样点的新的亮度值，接着以该采样点位置及新的亮度值为基础计算目标亮度以得到目标亮度矩阵，最后显示设备获得OLED面板的目标亮度矩阵，实现了图像亮度在一定程度上的提高，同时减少Mura现象。

以上所述仅为本发明的实施方式，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。