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光斩波器在延迟发光测量系统中的使用方法

摘要

一种将斩光器应用于光致发光测量的方法,可以用于延迟发光的测量,测量中有两条光路:光路一是激发光照射样品的光路;光路二是探测器探测样品发光的光路;该方法利用反光镜或者棱镜将其中一条或者两条光路反射或折射,使两条光路都通过同一个斩光器。这样就实现了同一个斩光器在测量中同时对激发光和被测样品的发光进行斩光,因而可以探测样品的延迟发光和激发态寿命。该方法可以用于光谱仪和荧光成像装置,并可以搭配任意的稳态光源使用,且无需再配备脉冲发生器、延迟发生器和快门附件等,简化了仪器装置并降低了成本。该方法也可以搭配大功率的近红外激光器,用于上转化材料或近红外发射材料的时间分辨的成像。

著录项

  • 公开/公告号CN106066317A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-11-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 朱泽策;

    申请/专利号CN201610409306.1

  • 发明设计人 朱泽策;

    申请日2016-06-12

  • 分类号G01N21/64;

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 430072 湖北省武汉市武昌区八一路武汉大学化学院化西楼503室

  • 入库时间 2023-06-19 00:42:37

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-06-21

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01N21/64 申请公布日:20161102 申请日:20160612

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2016-11-30

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N21/64 申请日:20160612

    实质审查的生效

  • 2016-11-02

    公开

    公开

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