一种实现在内存颗粒进行故障校验以增强模组条稳定性的方法

摘要

本发明公开了一种实现在内存颗粒进行故障校验以增强模组条稳定性的方法，具体步骤如下：第一步：在DRAM内部预留额外空间储存更正检查码；第二步：当系统将资料写入 ECC DRAM时，ECC DRAM的内部电路会自动即时将资料运算产生更正检查码，储存在DRAM内部的额外记忆体空间中；第三步：当系统需要读取资料时，ECC DRAM会取出资料与更正检查码，自动比对后输出正确资料；第四步：DRAM实现ECC功能；第五步：进一步实现模组的侦错更正功能，实现双重保障。本发明可以使系统轻松获得ECC的侦错更正功能，提高系统的可靠度与稳定度到伺服器等级，且对功能安全性要求更高的电子系统，有更强大的发展潜力。因而，本发明具有很好的推广使用价值。