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用于测量CT扫描层厚度的装置和方法

摘要

本发明提出了一种用于测量CT扫描层厚度的装置和方法。所述装置包括:装置本体,为实体结构;螺旋线,其嵌入在所述装置本体中,与所述装置本体紧密结合。本公开通过对测量装置中内嵌的螺旋线进行投影测量,进而得到扫描层的实际层厚。在测量过程中,测量装置的摆放位置与进床的位置允许有不超过5°的误差,摆放精度要求低。此外,无需多次测量就可以获得实际厚度,而且纵向分辨力远优于现有技术中的三角投影法。

著录项

  • 公开/公告号CN105997123A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-10-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京市计量检测科学研究院;

    申请/专利号CN201610264442.6

  • 申请日2016-04-26

  • 分类号A61B6/03(20060101);

  • 代理机构11218 北京思创毕升专利事务所;

  • 代理人孙向民;张清芳

  • 地址 100029 北京市朝阳区安苑东里一区12号

  • 入库时间 2023-06-19 00:35:44

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-12-06

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):A61B6/03 申请公布日:20161012 申请日:20160426

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2016-11-09

    实质审查的生效 IPC(主分类):A61B6/03 申请日:20160426

    实质审查的生效

  • 2016-10-12

    公开

    公开

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