一种获取剪切场下单个分子光谱及成像测量系统

摘要

本发明涉及一种获取剪切场下单个分子光谱及成像测量系统，其特征在于，该测量系统包括：一用于作为激发光照射待测样品的激发光源单元；一用于对待测样品施加机械剪切同时测量其宏观流变学特性的剪切施加与流变测量单元；以及一光学显微单元，光学显微单元用于将激发光源单元出射的激发光引入到位于剪切场下的待测样品，使得待测样品的染料分子受激发产生荧光信号，并将产生的荧光信号收集分别发射到一单分子荧光成像单元、一单分子荧光发射光谱测量单元和/或一荧光关联光谱测量单元。本发明可以广泛地应用于聚电解质稀溶液、凝胶、界面扩散、薄膜成像等多电荷凝聚态体系，探索其特殊性质的基础物理根源。