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一种受控频偏的时间间隔测量精度计量检定方法及装置

摘要

本发明涉及时间间隔测量精度技术领域,特别是一种受控频偏的时间间隔测量精度计量检定方法,包括以下步骤,步骤S101:评估固定时间间隔测量的背景噪声;步骤S102:产生连续受控的高精度时间间隔;步骤S103:选择合适的频偏ΔF/F值,对被测TIM仪表的背景噪声和不确定度进行高精度计量检测;步骤S104:通过数据处理,将固定ΔF/F频偏的影响消除。本发明还包括一种受控频偏的时间间隔测量精度计量检定装置,包括参考源和频率综合仪器,所述参考源分别与被计量TIM设备的参考信号输入端和通道A相连接,所述参考源与频率综合仪的参考输入端相连接,所述频率综合仪与被计量TIM设备的通道B相连接。采用上述方法和装置后,本发明使得时间间隔测量计量检定精度达到5ps。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-03-15

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G04F10/00 申请公布日:20160601 申请日:20160114

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2016-06-29

    实质审查的生效 IPC(主分类):G04F10/00 申请日:20160114

    实质审查的生效

  • 2016-06-01

    公开

    公开

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