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一种CCD器件量子效率测量装置

摘要

本发明提出了一种CCD器件量子效率测量装置,包括:光源、单色仪、积分球、扩束镜、可调光阑、暗室、标准探测器、CCD驱动电路、皮安表、主控计算机,将CCD器件及标准探测器置于暗室中;单色仪输出口经过聚焦放大后汇聚到光纤束中,然后注入到积分球中;积分球出光口处增加扩束镜,光线通过扩束镜后进行了汇聚,经过汇聚准直后的光线进入暗室后,经过可调光阑投射到被测CCD或标准探测器上;分别通过CCD驱动电路和皮安表进行数据采集并传送到主控计算机上进行处理。本发明在积分球出光口处增加扩束镜系统,既提高了光源的均匀性,又起到了汇聚及准直光线的作用,提高了光能利用率。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-03-10

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01M11/02 申请公布日:20160511 申请日:20151224

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2016-06-08

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01M11/02 申请日:20151224

    实质审查的生效

  • 2016-05-11

    公开

    公开

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