机译:一种用于获得量子效率分布的方法,一种用于显示量子效率分布的方法,用于获得量子效率分布的程序,用于显示量子效率分布的程序,荧光分光光度计和显示装置
公开/公告号DE102020122838A1
专利类型
公开/公告日2021-03-04
原文格式PDF
申请/专利权人 HITACHI HIGH-TECH SCIENCE CORPORATION;INTER-UNIVERSITY RESEARCH INSTITUTE CORPORATION RESEARCH ORGANIZATION OF INFORMATION AND SYSTEMS;
申请/专利号DE202010122838
申请日2020-09-01
分类号G01N21/64;G01J3/28;
国家 DE
入库时间 2022-08-24 17:30:56