首页> 中国专利> 多层错位耦合准直器、辐射器、探测装置及扫描设备

多层错位耦合准直器、辐射器、探测装置及扫描设备

摘要

一种多层错位耦合准直器,其包括若干个准直层,每个准直层上设有若干准直孔,至少有两个准直层相互间是错位耦合的。本发明提出的多层错位耦合准直器除了可以实现相较于单层准直器的性能的提升和多性能选择的功能外,还具有较好的加工可行性。由于将准直器分为多个准直层后,每个准直层厚度较薄,所以加工精度容易保证。

著录项

  • 公开/公告号CN105520741A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-04-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 武汉知微科技有限公司;

    申请/专利号CN201410512964.4

  • 发明设计人 李延召;谢庆国;

    申请日2014-09-29

  • 分类号A61B6/03(20060101);

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 430070 湖北省武汉市东湖新技术开发区关东园路2-2号武汉光谷国际商会大厦A座23层13室

  • 入库时间 2023-12-18 15:50:38

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-05-25

    实质审查的生效 IPC(主分类):A61B6/03 申请日:20140929

    实质审查的生效

  • 2016-04-27

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号