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扩大Ti/TiN应力窗口的工艺方法

摘要

本发明公开了一种扩大Ti/TiN应力窗口的工艺方法,包含:第1步,形成器件之后,进行接触孔沟槽的刻蚀;第2步,进行第一次快速热处理;第3步,淀积Ti/TiN膜层;第4步,进行第二次快速热处理。本发明工艺在Ti/TiN膜形成之前,加入特殊的热处理,扩大了避免膜层剥离的工艺窗口,减小Ti/TiN膜层出现与硅基底剥离的概率。

著录项

  • 公开/公告号CN105514028A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-04-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海华虹宏力半导体制造有限公司;

    申请/专利号CN201511026574.7

  • 发明设计人 卓红标;李亮;

    申请日2015-12-31

  • 分类号H01L21/768(20060101);

  • 代理机构31211 上海浦一知识产权代理有限公司;

  • 代理人丁纪铁

  • 地址 201203 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路1399号

  • 入库时间 2023-12-18 15:33:29

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-04-05

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):H01L21/768 申请公布日:20160420 申请日:20151231

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2016-05-18

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/768 申请日:20151231

    实质审查的生效

  • 2016-04-20

    公开

    公开

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