一种测试模数转换器差分线性误差和积分线性误差的方法

摘要

本发明涉及集成电路模数转换器ADC测试方法，在不使用高纯度或高精度的激励信号源的情况下却能精确测试模数转换器ADC差分线性误差DNL积分线性误差INL数学模型及计算方法和性能的测试电路模型。本发明要解决的技术问题是低精度正弦波信号源，其各谐波相位均匀分布，符合实际应用中产生的低精度正弦信号，由于各谐波相位均匀分布，意味被测ADC可以激励信号任意时刻开始，让低精度正弦激励信号通过简单分压电路，利用被测ADC的电平转换，建立分压前后的激励信号之间的联系，从而获得精确估出激励信号源的参数，进一步估出高精度和高精确度的被测ADC特性参数方法。使得使用一般低精度信号去精确测量ADC静态参数成为可能。