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一种超声C扫描检测中缺陷位置精确定位方法

摘要

本发明提供了一种超声C扫描检测中缺陷位置精确定位方法,包括以下步骤:S1:在已经标定好三维坐标系统的水平工作台上放置长方体形工件,并记录工件的长宽高;S2:在超声C扫描检测系统中输入工件的长宽高参数,并调节好超声参数;S3:用超声探头对工件的水平探测面进行水平扫描,得到一幅包含扫描位置信息与超声检测信号相对应的二维平面超声C扫描图像,确定图像中缺陷信号的平面位置坐标;S4:将十字激光器移动至平面位置坐标处,十字激光器中的十字光斑在工件中的投影即为缺陷的位置,配合十字光斑即将工件中的缺陷平面投影准确的描绘出来。本发明方法可以直接利用C扫描图像对工件中缺陷进行精确定位。

著录项

  • 公开/公告号CN105467011A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-04-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海复合材料科技有限公司;

    申请/专利号CN201510907290.2

  • 申请日2015-12-09

  • 分类号G01N29/06(20060101);

  • 代理机构31236 上海汉声知识产权代理有限公司;

  • 代理人郭国中;樊昕

  • 地址 201112 上海市闵行区召楼路3636号

  • 入库时间 2023-12-18 15:20:38

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-05-03

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01N29/06 申请公布日:20160406 申请日:20151209

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2016-05-04

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N29/06 申请日:20151209

    实质审查的生效

  • 2016-04-06

    公开

    公开

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