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正六面体磁梯度张量系统误差直接校正方法

摘要

本发明属于磁测量技术领域,具体涉及正六面体磁梯度张量系统误差直接校正方法。技术方案包括以下步骤:S1,将正六面体磁梯度张量系统放置在匀强磁场中,旋转系统并记录各个磁通门磁力仪的输出值;S2,选定系统中某个磁力仪作为参考磁力仪,利用线性化校正方法求出其单磁力仪系统误差校正参数;S3,根据系统中剩余的磁力仪与参考磁力仪的输出值之间的关系,将剩余磁力仪的输出值转换到参考磁力仪的输出值,然后利用参考磁力仪的单磁力仪误差系数进行校正;S4,利用得到误差校正参数即可对正六面体磁梯度张量系统进行误差校正。本发明可实现对正六面体磁梯度张量系统误差的直接校正,校正流程简单,且校正参数减少,校正效率提高。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-09-21

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01C25/00 申请公布日:20160406 申请日:20160106

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2016-05-04

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01C25/00 申请日:20160106

    实质审查的生效

  • 2016-04-06

    公开

    公开

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