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防止电子设备测试中过电流过电压破坏的方法及系统

摘要

本发明公开了一种防止电子设备测试中过电流过电压破坏的方法及系统。所述方法包括:在测试治具与电源供应器之间串联过电流过电压保护电路;连接测试治具与待测的电子设备;当通过过电流过电压保护电路的电流增大至电流阈值时,自动切断测试治具与电源供应器之间的通路;以及当输入过电流过电压保护电路的电压增大至电压阈值时,钳位并且输出稳定的输出电压值。本发明所提供的防止电子设备测试中过电流过电压破坏的方法及系统能够在通过电源供应器到测试治具的电流增大至设定的电流阈值时自动切断电流通路,并且将电源供应器到测试治具的电压限制为稳定的工作电压,以解决测试中过电流、过电压的问题并且防止对电子设备内部零件的破坏。

著录项

  • 公开/公告号CN105356422A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-02-24

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海斐讯数据通信技术有限公司;

    申请/专利号CN201510690081.7

  • 发明设计人 申圣军;

    申请日2015-10-22

  • 分类号H02H7/20;H02H3/087;H02H9/04;

  • 代理机构上海硕力知识产权代理事务所;

  • 代理人郭桂峰

  • 地址 201616 上海市松江区思贤路3666号

  • 入库时间 2023-12-18 14:26:07

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-01-11

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):H02H7/20 申请公布日:20160224 申请日:20151022

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2016-03-23

    实质审查的生效 IPC(主分类):H02H7/20 申请日:20151022

    实质审查的生效

  • 2016-02-24

    公开

    公开

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