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使用实时示波器的S-参数测量

摘要

本发明涉及使用实时示波器的S-参数测量。提供了一种用于使用实时示波器确定被测设备的散射参数的方法。所述方法包括基于当从信号发生器生成信号时由实时示波器测量的第一电压计算具有N个端口的被测设备的每一个端口的反射系数,其中N大于一。所述方法还包括确定被测设备的每一个端口的插入损耗系数,包括基于当从信号发生器生成信号时由实时示波器测量的第二电压计算要测量的被测设备的端口的插入损耗系数。

著录项

  • 公开/公告号CN105277800A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-01-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 特克特朗尼克公司;

    申请/专利号CN201510422210.4

  • 发明设计人 K.谭;J.J.皮克德;

    申请日2015-07-17

  • 分类号G01R27/28(20060101);

  • 代理机构72001 中国专利代理(香港)有限公司;

  • 代理人马红梅;刘春元

  • 地址 美国俄勒冈州

  • 入库时间 2023-12-18 13:52:34

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-05-07

    发明专利申请公布后的撤回 IPC(主分类):G01R27/28 申请公布日:20160127 申请日:20150717

    发明专利申请公布后的撤回

  • 2017-06-16

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R27/28 申请日:20150717

    实质审查的生效

  • 2016-01-27

    公开

    公开

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