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动态光散射测定装置和动态光散射测定方法

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摘要

提供一种不易受到振动等外来干扰的影响、不需要进行参照光和试样光的光路差调整的动态光散射测定装置等。动态光散射测定装置(1)包含：照射部：其将来自低相干光源(10)的光照射到包含颗粒(42)的试样(40)；光谱强度取得部，其使来自参照面的反射光和透射过参照面的来自试样(40)的散射光分光，取得反射光和散射光的干涉光的光谱强度，所述参照面配置于照射到试样(40)的光的光路上；以及测定部，其基于取得的光谱强度测定试样(40)的动态光散射。

著录项

公开/公告号CN105277490A

专利类型发明专利
公开/公告日2016-01-27

原文格式PDF
申请/专利权人大塚电子株式会社;国立大学法人东京农工大学;
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申请/专利号CN201510340652.4
发明设计人泉谷悠介;岩井俊昭;
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申请日2015-06-18
分类号G01N21/25;
代理机构北京市隆安律师事务所;
代理人徐谦
地址日本大阪府
入库时间 2023-12-18 13:52:34

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2019-09-06

发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01N21/25 申请公布日:20160127 申请日:20150618

发明专利申请公布后的视为撤回
2017-06-13

实质审查的生效 IPC(主分类):G01N21/25 申请日:20150618

实质审查的生效
2016-01-27

公开

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外文文献

1. 动态光散射测定装置和动态光散射测定方法 [P] . 中国专利： CN105277490A . 2016-01-27
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5. dynamic light scattering measurement apparatus and dynamic light scattering measurement method [P] . 日本专利： JP5754067B2 . 2015-07-22

机译：动态光散射测定装置及动态光散射测定方法