公开/公告号CN105070645A
专利类型发明专利
公开/公告日2015-11-18
原文格式PDF
申请/专利权人 上海华力微电子有限公司;
申请/专利号CN201510430121.4
申请日2015-07-21
分类号
代理机构上海天辰知识产权代理事务所(特殊普通合伙);
代理人吴世华
地址 201210 上海市浦东新区张江高科技园区高斯路568号
入库时间 2023-12-18 12:21:18
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2018-04-24
发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):H01L21/02 申请公布日:20151118 申请日:20150721
发明专利申请公布后的视为撤回
2015-12-16
实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/02 申请日:20150721
实质审查的生效
2015-11-18
公开
公开
机译: 晶圆表面检查装置,晶圆表面检查方法,判断缺陷晶圆的装置,判断缺陷晶圆的方法,以及晶圆表面信息处理装置
机译: 晶圆表面检查装置,晶圆表面检查方法,判断缺陷晶圆的装置,判断缺陷晶圆的方法,以及晶圆表面信息处理装置
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