使用倒谱技术测量麻醉深度的方法和设备

摘要

本发明涉及一种比现有测量麻醉深度的方法准确的测量麻醉深度的方法，所述方法通过使用倒谱技术，从而在适当时间提供麻醉深度，即使在麻醉状态的突然变化期间也是如此。使用倒谱技术测量麻醉深度的方法包括下述步骤：第一特征向量提取部分接收第一EEG信号作为输入信号，通过梅尔频率倒谱系数(melfrequency？cepstral？coefficient；MFCC)计算，且提取第一特征向量；第二特征向量提取部分接收来自麻醉状态的第二EEG信号和来自非麻醉状态的第三EEG信号作为输入信号，通过梅尔频率倒谱系数(MFCC)计算，且提取第二特征向量和第三特征向量；以及量化部分将具有第二特征向量和第三特征向量作为两个轴的向量平坦表面的两个轴之间的区域分成多个区段，且量化多个区段内的第一特征向量的位置以输出麻醉深度指数。