一种基于labview的半导体激光器芯片的测试系统

摘要

本发明公开了一种测试系统，尤其是一种基于labview的半导体激光器芯片的测试系统，包括：计算机、光谱仪、四轴电机控制器、四轴电机、模拟电压输出模块、电压转电流模块、多通道模拟信号数据采集模块、温度控制反馈电路、X/Y/Z三维运动平台、T轴一维平移台、抽真空芯片bar条吸附台、激光功率探测器、三维光纤耦合调整台、CCD摄像监控系统、三维芯片探针固定调整架、及USB总线，在本测试系统中单个测试时间尽可能的短，极大地提高生产效率，以适应现代批量生产要求；且可适应不同类型的端面发射半导体激光器和不同性能测试的要求，减少重复开发工作；测试精度高、重复性好，尽量减少人工因素的影响；同时对关心的中间参数也可以进行测试，提高覆盖率。