一种荧光分析仪用基于激光二极管的光斑控制装置

摘要

本发明公开了一种荧光分析仪用基于激光二极管的光斑控制装置，包括遮挡板，所述遮挡板上方设有激光二极管，所述遮挡板下方位于所述激光二极管正下方位置设有遮光片，所述遮光片正中间位置设有孔；遮光片上的孔起到了控制被检测物上光斑尺寸的作用，从而使得被检测物表面上的光斑尺寸得到有效控制，使得光斑尺寸有效控制在3.6mm*0.8mm，精度达到0.1mm；遮光片上的孔让光斑中间光强较均匀的部分通过，使得光斑光强比较均匀。