工程化单晶体取向的测量方法及装置

摘要

本发明公开了一种工程化单晶体取向的测量方法及装置，所述方法包括如下步骤：以单晶体的试样的待测面所在平面为基准面，所述基准面为Ф面，X射线发射装置和X射线探测装置所在平面为2θ面；扫描时，针对单晶体固定衍射角，2θ面以其与Ф面的交线为回转轴在一定范围内转动，从而实现X射线发射装置和X射线探测装置在衍射球面上摆动，试样以垂直于基准面的轴为旋转轴转动，旋转轴与基准面交于O点，回转轴过O点，X射线发射装置扫描试样的入射点始终为O点；测得在衍射方向探测到的X射线衍射峰最强，根据布拉格定律确定试样内待测晶面的法线方向，所述法线方向即为单晶体试样的该晶面的取向。本发明方法成本低，易于操作。