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测试装置、校正器件、校正方法及测试方法

摘要

本发明的测试装置对具备光接口的多个被测器件简便地进行测试。本发明提供一种测试装置及测试方法,该测试装置包括:光测试信号产生部,产生光测试信号;光信号供给部,将光测试信号供给至多个被测器件中的测试对象的被测器件;第一光开关部,在多个被测器件所输出的光信号中选择由测试对象的被测器件输出的光信号;及光信号接收部,接收所选择的光信号。

著录项

  • 公开/公告号CN104898037A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2015-09-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 爱德万测试株式会社;

    申请/专利号CN201510056916.3

  • 发明设计人 増田伸;原英生;安高刚;

    申请日2015-02-03

  • 分类号

  • 代理机构深圳新创友知识产权代理有限公司;

  • 代理人江耀纯

  • 地址 日本东京

  • 入库时间 2023-12-18 10:50:22

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-01-24

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01R31/28 申请公布日:20150909 申请日:20150203

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2016-03-23

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R31/28 申请日:20150203

    实质审查的生效

  • 2015-09-09

    公开

    公开

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