一种基于微波光子技术的微波源相位噪声测量装置及方法

摘要

本发明公开的一种基于微波光子技术的微波源相位噪声测量装置包括依次连接的激光源、电光调制器、光纤、偏振调制器、光带通滤波器、偏振控制器、检偏器、光电探测器、微波功分器和快速傅里叶变换分析仪。待测微波信号由微波功分器分为第一微波信号与第二微波信号；第一微波信号经电光调制器调制于光载波上，得到初始调制光信号；利用偏振调制器将第二微波信号调制于光纤延时后的初始调制光信号，得到最终调制光信号；最终调制光信号依次通过光带通滤波器、偏振控制器、检偏器和光电探测器，输出的电信号经FFT分析仪处理计算后得到相位噪声。本发明的装置和方法具有精确度与灵敏度高、工作带宽大，并且测量精度与灵敏度在整个工作带宽内不变等优点。