薄壁结构超声共振测厚频谱分析内插校正方法

摘要

本发明创造应用于超声波无损检测领域，薄壁结构超声共振测厚频谱分析内插校正方法。包括：步骤1、采用超声共振法进行薄壁结构检测，获取薄壁结构的表面回波和共振回波；步骤2、对共振回波信号截取指定长度的样本进行傅里叶变换，得到频谱；步骤3、采用内插法对所述频谱进行校正；步骤4、计算壁厚度。本发明利用频谱内插校正方法，可以提高周期信号频谱频率估计精度。针对超声共振测厚信号，可以在不提高采样频率的前提下，减小共振频率的测量误差，能够减小分析误差，实现薄壁结构厚度损失的精确估计，提高分析壁厚的精度。