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高分辨质谱仪负离子模式低质量区的质量校正试剂盒及校正方法

摘要

本发明属于质谱检测领域,涉及一种高分辨质谱仪负离子模式低质量区的质量校正试剂盒及校正方法。所述质量校正试剂盒包括半导体纳米材料悬浮液、游离脂肪酸标准溶液和MALDI样品靶清洗液;所述校正方法包括:调节质谱仪样品靶和狭缝电压差为20伏特;取半导体纳米材料悬浮液滴于样品靶表面,待溶剂完全挥发干燥;取游离脂肪酸标准溶液滴于所述半导体纳米材料的表面,待溶剂完全挥发干燥,将样品靶放入质谱仪进行质量校正,仪器校正后所得校正系数可用于校正样品质谱检测结果。本发明所述校正试剂盒能有效进行MALDI质谱仪负离子模式低质量区的校正,质谱信号没有背景干扰,能够进行小分子化合物质量的准确测定,相对误差小于6ppm。

著录项

  • 公开/公告号CN104597114A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2015-05-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 华中师范大学;

    申请/专利号CN201510030498.0

  • 发明设计人 钟鸿英;唐雪妹;黄璐璐;张文洋;

    申请日2015-01-21

  • 分类号G01N27/64(20060101);

  • 代理机构42102 湖北武汉永嘉专利代理有限公司;

  • 代理人乔宇

  • 地址 430079 湖北省武汉市洪山区珞瑜路152号华中师范大学

  • 入库时间 2023-12-18 08:40:01

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-03-30

    授权

    授权

  • 2015-05-27

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N27/64 申请日:20150121

    实质审查的生效

  • 2015-05-06

    公开

    公开

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