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公开/公告号CN104597114A
专利类型发明专利
公开/公告日2015-05-06
原文格式PDF
申请/专利权人 华中师范大学;
申请/专利号CN201510030498.0
发明设计人 钟鸿英;唐雪妹;黄璐璐;张文洋;
申请日2015-01-21
分类号G01N27/64(20060101);
代理机构42102 湖北武汉永嘉专利代理有限公司;
代理人乔宇
地址 430079 湖北省武汉市洪山区珞瑜路152号华中师范大学
入库时间 2023-12-18 08:40:01
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2016-03-30
授权
2015-05-27
实质审查的生效 IPC(主分类):G01N27/64 申请日:20150121
实质审查的生效
2015-05-06
公开
机译: 负离子模式下高分辨率质谱仪低质量区的质谱校正试剂盒和校正方法
机译: 负离子模式下高分辨率质谱仪低质量区域的质谱校正试剂盒和校正方法
机译: 负离子模式下高分辨率质谱仪低质量区域的质量校准套件和校准方法
机译:与神经网络模型扫描仪获得的数字图像相反,使用神经网络生成的FIR滤波器对低质量扫描仪获得的数字图像进行校正
机译:前向消失校正方法,用于提高广域下行链路无线通信的最低质量
机译:以前的擦除校正方法,提高广域下行链路无线通信的最低质量
机译:使用无监督色彩校正方法增强低质量图像
机译:功率因数校正拓扑和小信号建模:I.单相和三相功率因数校正。二。不连续导通模式下转换器的小信号分析。
机译:双质量MEMS陀螺仪正交误差校正方法的优化与实验
机译:通过使用高分辨率图像比较正射校正方法来进行Dem质量分析(案例研究:中爪哇省Kendal区Limbangan区)
机译:使用Nasa / NsO光谱仪进行He I 1083 nm成像光谱的固定模式校正和快速分析程序