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用于X射线光电子能谱测量的非导电样品的制备方法

摘要

一种用于X射线光电子能谱测量的非导电样品的制备方法,是在非导电样品测试区周围增加导电链接,所述的导电链接为涂导电膜、镀导电膜或紧贴导电掩膜。本发明方法简单,利用本发明制备的非导电样品结合中和枪使用,可有效快速的消除X射线光电子能谱测量中表面荷电效应,实现数据的准确测量,降低分析难度。

著录项

  • 公开/公告号CN102818721A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-12-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN201210297402.3

  • 发明设计人 崔云;

    申请日2012-08-20

  • 分类号G01N1/28;

  • 代理机构上海新天专利代理有限公司;

  • 代理人张泽纯

  • 地址 201800 上海市嘉定区800-211邮政信箱

  • 入库时间 2023-12-18 07:36:17

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-01-21

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01N1/28 申请公布日:20121212 申请日:20120820

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2013-01-30

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N1/28 申请日:20120820

    实质审查的生效

  • 2012-12-12

    公开

    公开

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