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球面干涉检测中待测球面调整误差的高精度校正方法

摘要

本发明公开了一种球面干涉检测中待测球面调整误差的高精度校正方法。首先利用干涉仪测得同时包含待测球面调整误差及其实际面形误差的原始波面数据,利用待测球面的数值孔径以及原始波面数据拟合多项式的离焦项,将离焦调整误差所引入的高阶像差从原始波面数据中分离出来,并通过消除原始波面数据拟合多项式的常数项、倾斜项、离焦项以及所分离出对应的高阶像差项,即可实现对球面干涉检测中待测球面倾斜和离焦调整误差的高精度校正,进而获得高精度的待测球面面形数据。本发明为精密球面、特别是大数值孔径球面的干涉检测中待测球面的调整误差提供了一种高精度的校正方法,在光学球面元件的精密加工、检测中具有重要应用价值。

著录项

  • 公开/公告号CN102735185A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-10-17

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国计量学院;

    申请/专利号CN201210207116.3

  • 发明设计人 王道档;

    申请日2012-06-19

  • 分类号G01B11/24(20060101);

  • 代理机构33200 杭州求是专利事务所有限公司;

  • 代理人张法高

  • 地址 310018 浙江省杭州市江干经济开发区学源街

  • 入库时间 2023-12-18 06:52:28

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-05-13

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01B11/24 申请公布日:20121017 申请日:20120619

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2012-12-12

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B11/24 申请日:20120619

    实质审查的生效

  • 2012-10-17

    公开

    公开

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