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用于II-VI族半导体的新型湿蚀刻剂及方法

摘要

本发明提供了一种新型蚀刻II-VI族半导体的蚀刻剂。该蚀刻剂包括高锰酸钾和磷酸的水溶液。该蚀刻溶液可以以较快速度蚀刻II-VI族半导体,但往往与III-V族半导体更不易反应。所提供的试剂可用于蚀刻II-VI族半导体的方法中。

著录项

  • 公开/公告号CN102668044A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-09-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 3M创新有限公司;

    申请/专利号CN201080052312.7

  • 申请日2010-11-11

  • 分类号H01L21/306;

  • 代理机构中原信达知识产权代理有限责任公司;

  • 代理人张爽

  • 地址 美国明尼苏达州

  • 入库时间 2023-12-18 06:28:50

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-05-27

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):H01L21/306 申请公布日:20120912 申请日:20101111

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2012-11-07

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/306 申请日:20101111

    实质审查的生效

  • 2012-09-12

    公开

    公开

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