液晶面板、液晶模组及厘清其画面不良的原因的方法

摘要

本发明公开了一种液晶面板，其包括像素区域和设置于像素区域外围的测试用短路棒区域，短路棒区域设置多个第一开关电路、多个扫描信号测试点、公共电极测试点、多个第一单向电路或第二开关电路以及多个数据信号测试点；将扫描信号线通过第一开关电路与所述扫描信号测试点连接，数据信号线通过第一单向电路或第二开关电路与所述数据信号测试点连接，公共电极与公共电极测试点连接。本发明还公开了一种厘清液晶模组画面不良原因的方法。通过上述方式，本发明的液晶面板能够实现在组立制程中节省切断短路棒区域的测试引线的工艺以及切割设备，进而在组立制程后续的生产阶段继续使用短路棒区域的测试引线进行画面检测，提高画面测试的准确性。

说明书

技术领域

本发明涉及液晶显示领域，特别是涉及液晶面板、液晶模组及厘清其画面不良的原因的方法。

背景技术

因液晶显示器辐射低、耗电少以及重量轻等优点，使得越来越多的电子产品纷纷采用液晶显示器作为其显示面板，如手机、电脑和电视等。其中，TFT(Thin Film Transistor，薄膜场效应晶体管)液晶显示器是液晶显示器中的一种。

薄膜场效应晶体管液晶显示器的工作原理是：通过适当的电压加载在阵列玻璃基板和彩色滤光玻璃基板结合的液晶层，使液晶层中的液晶分子在电压作用下发生偏转，通过不同的电压控制以得到不同的穿透率，从而实现液晶显示。

薄膜场效应晶体管液晶显示器的制造过程分为Array(阵列)制程、Cell(组立)制程以及Module(模组)制程。Array制程与半导体制程相似，不同的是将薄膜场效应晶体管制作于玻璃上，获得薄膜电晶体玻璃基板。Cell制程是将Array制程获得的薄膜电晶体玻璃基板与CF(Color filter，彩色滤光)玻璃基板结合，并在两个基板之间注入液晶后贴合，再将大片玻璃切割成多个面板。Module制程是将Cell制程获取的面板与其他组件如背光板、电路板等组装一起。

在Cell制程中，还需要对面板进行画面检测，检测技术主要是采用Shorting bar(短路棒)面板布线的方式，如图1所示。图1中，通过将面板10内所有的R、G、B数据电极分别在外围短接出测试点1、测试点2和测试点3，同时将所有扫描线的奇线20和偶线21分别短接引出至测试点4和测试点5。测试点6为公共电极。在进行画面测试时，短路棒测试机台将测试信号加至相应的测试点1、2、3、4、5和6，即可点亮产品进行缺陷检查。在完成Cell制程的画面测试后，正常的产品通过使用Laser(镭射)机台把短路棒测试引线切断，即在如图1所示的虚线7的位置，将测试点1、2、3、4、5和6的测试引线进行镭射切断。切断后的产品再进行偏光片贴合成面板，然后进行下一个Module制程。

在Module制程中，对面板进行COF(Chip On Film，膜上芯片)贴合以及电路板的组装后，还要进行Module制程的画面测试。当测试出产品画面不良时，需要厘清出现不良的原因是Cell制程工艺造成还是Module制程工艺造成。但是，在Cell制程中已经将短路棒的测试引线在镭射机台中切断，无法再次使用Cell制程工艺中的短路棒测试引线对画面进行测试，这样就难以厘清Module制程中出现画面不良的原因了，影响产品的生产。在另一方面，由于Cell制程中已经将进行画面测试的测试引线镭射切断，使得在后续作业的可靠性保证测试时，无法对Cell制程工艺的画面做检查，从而无法保证产品的质量。

发明内容

本发明主要解决的技术问题是提供一种液晶模组、液晶面板及厘清其画面不良的原因的方法，能够在组立制程后续的生产阶段继续使用短路棒区域的测试引线对液晶面板进行画面检测，实现在产品画面出现不良时，厘清是组立制程工艺的原因还是模组制程工艺的原因，从而有助于进行画面不良的改进。

为解决上述技术问题，本发明采用的一个技术方案是：提供一种液晶面板，包括像素区域和设置于像素区域外围的测试用短路棒区域；液晶面板的像素区域设置有多条数据信号线、多条扫描信号线以及公共电极，短路棒区域包括第一区域和第二区域；第一区域设置有多个第一开关电路、多个扫描信号测试点以及公共电极测试点，第二区域设置有多个数据信号测试点，还设置有多个第一单向电路或第二开关电路；每条数据信号线均通过一个第一单向电路或第二开关电路与数据信号测试点连接，第一单向电路的输入端连接数据信号测试点，输出端连接数据信号线；每条扫描信号线均通过一个第一开关电路与扫描信号测试点连接；公共电极与公共电极测试点连接。

其中，第一区域还设置有第一开关电路的控制信号输入点；第一开关电路是薄膜场效应晶体管，包括源极、漏极和栅极，源极与扫描信号线连接，漏极与扫描信号测试点连接，栅极与第一开关电路的控制信号输入点连接。

其中，第一单向电路是二极管，二极管的阳极与数据信号测试点连接，二极管的阴极与数据信号线连接。

其中，第二区域还设置有第二开关电路的控制信号输入点；第二开关电路包括第一端、第二端以及控制端，第一端与数据信号测试点连接，第二端与数据信号线连接，控制端与第二开关电路的控制信号输入点连接，控制第二开关电路在进行产品测试时导通，其余时间断开。

其中，公共电极包括彩膜玻璃基板公共电极和阵列玻璃基板公共电极，彩膜玻璃基板公共电极与阵列玻璃基板公共电极均通过导线与第一区域的公共电极测试点连接。

为解决上述技术问题，本发明采用的另一个技术方案是：提供一种液晶模组，包括液晶面板、硬质电路板以及软质电路板，液晶面板包括像素区域和设置于像素区域外围的测试用短路棒区域；液晶面板的像素区域设置有多条数据信号线、多条扫描信号线以及公共电极，短路棒区域包括第一区域和第二区域；第一区域设置有多个第一开关电路、多个第一扫描信号测试点以及第一公共电极测试点，第二区域设置有多个第一数据信号测试点，还设置有多个第一单向电路或第二开关电路；每条数据信号线均通过一个第一单向电路或第二开关电路与第一数据信号测试点连接，第一单向电路的输入端连接第一数据信号测试点，输出端连接数据信号线；每条扫描信号线均通过一个第一开关电路与第一扫描信号测试点连接；公共电极通过导线与第一公共电极测试点连接；硬质电路板设置有与多个第一扫描信号测试点一一对应的多个第二扫描信号测试点，第一扫描信号测试点与第二扫描信号测试点通过软质电路板电连接；硬质电路板设置有与多个第一数据信号测试点一一对应的多个第二数据信号测试点，第一数据信号测试点与第二数据信号测试点通过软质电路板电连接；硬质电路板设置有与第一公共电极测试点对应的第二公共电极测试点，第一公共电极测试点与第二公共电极测试点通过软质电路板电连接；硬质电路板还设置有低压差分信号接口，用于输入液晶面板的驱动信号。

其中，第一区域还设置有第一开关电路的第一控制信号输入点；硬质电路板设置有与第一开关电路的第一控制信号输入点对应的第二控制信号输入点，第一开关电路的第一控制信号输入点与第二控制信号输入点通过软质电路板电连接。

其中，第二区域还设置有第二开关电路的第三控制信号输入点；

硬质电路板设置有与第二开关电路的第三控制信号输入点对应的第四控制信号输入点，第三控制信号输入点与第四控制信号输入点通过软质电路板电连接。

为解决上述问题，本发明采用的又一技术方案是，提供一种厘清液晶模组画面不良的原因的方法，液晶模组是如上述任一项的液晶模组，包括在硬质电路板上的低压差分信号接口输入液晶面板所需的第一测试信号，使第一测试信号通过第一通路进入液晶面板，以驱动液晶面板显示；在液晶面板显示不良时，终止在低压差分信号接口输入第一测试信号；在终止输入第一测试信号后，使第二测试信号通过第二通路进入液晶面板，以驱动液晶面板显示，第二通路由硬质电路板上的第二测试点通过软质电路板与液晶面板上的第一测试点电连接而形成，第二测试点包括第二扫描信号测试点、第二控制信号输入点、第二公共电极测试点以及第二数据信号测试点，第一测试点包括第一扫描信号测试点、第一控制信号输入点、第一公共电极测试点以及第一数据信号测试点；判断输入第二测试信号后液晶面板是否显示不良，若显示不良则判断为液晶面板组立制程造成的缺陷，否则判断为液晶模组制程造成的缺陷。

其中，使第二测试信号通过第二通路进入液晶面板的步骤包括：在硬质电路板的第二公共电极测试点处输入公共电极基准电压；在输入公共电极基准电压后，在硬质电路板的第二控制信号输入点处输入控制信号使液晶面板的第一开关电路处于导通状态，第一开关电路是薄膜场效应晶体管，包括源极、漏极和栅极，源极与扫描信号线连接，漏极与第一扫描信号测试点连接，栅极与第一开关电路的第一控制信号输入点连接；在输入控制信号后，在硬质电路板的第二扫描信号测试点处输入扫描信号，使扫描信号通过第一开关电路而提供给扫描数据线；在输入扫描信号后，在硬质电路板的第二数据信号测试点处输入数据信号，使数据信号通过第一单向电路或第二开关电路而提供给数据信号线，以驱动液晶面板显示，第一单向电路是二极管，二极管的阳极与第一数据信号测试点连接，二极管的阴极与数据信号线连接，第二开关电路包括第一端、第二端以及控制端，第一端与第一数据信号测试点连接，第二端与数据信号线连接，控制端与第二开关电路的第二控制信号输入点连接，控制第二开关电路在进行产品测试时导通，其余时间断开；

本发明的有益效果是：区别于现有技术的情况，本发明的液晶模组，将液晶面板的短路棒区域的数据信号测试点、扫描信号测试点以及公共电极测试点通过软质电路板与硬质电路板上对应设置的数据信号测试点、扫描信号测试点以及公共电极测试点电连接，在进行画面检测时可以使用短路棒区域的测试引线对液晶面板进行画面检测，能够在检测出产品画面出现不良时，厘清是组立制程工艺的原因还是模组制程工艺的原因，从而有助于进行画面不良的改进。其次，本发明的液晶面板，在测试用的短路棒区域的第一区域设置多个第一开关电路、多个扫描信号测试点以及公共电极测试点，在第二区域设置多个第一单向电路或第二开关电路和多个数据信号测试点，并使数据信号线通过第一单向电路或第二开关电路与对应的数据信号测试点连接，使扫描信号线通过第一开关电路与对应的扫面信号测试点连接。通过设置上述电路结构，使每条数据信号线之间和每条扫描信号线之间互不影响，从而在组立制程中节省切断短路棒区域的测试引线的工艺以及切割设备，由此能够在组立制程后续的生产阶段继续使用短路棒区域的测试引线对液晶面板进行画面检测，提高画面测试的准确性，降低组立制程成本。

附图说明

图1是现有技术一种液晶面板的结构示意图；

图2是本发明液晶面板一实施例的结构示意图；

图3是本发明液晶模组一实施例的结构示意图；

图4是本发明厘清液晶模组画面不良的原因的方法一实施例的流程图；

图5是图4中使第二测试信号通过第二通路进入液晶面板的步骤的流程图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本发明进行详细说明。

参阅图2，图2是本发明液晶面板一实施例的结构示意图。本发明的液晶面板包括像素区域101和设置于像素区域101外围的测试用短路棒区域(未标示)。

其中，像素区域101设置有多条数据信号线、多条扫描信号线以及公共电极(图均未示)。所述的多条数据信号线、多条扫描信号线以及公共电极延伸出短路棒区域，如图2所示，多条数据信号线中包括多条R信号线、多条G信号线以及多条B信号线，多条扫描信号线包括多条扫描奇线201和多条扫描偶线202。

短路棒区域包括第一区域102和第二区域103。进一步地，第一区域102设置有多个第一开关电路111、多个扫描信号测试点100以及公共电极测试点119。其中，多个扫描信号测试点100包括扫描奇线测试点113和扫描偶线测试点112。每条扫描信号线均通过一个第一开关电路111与对应的扫描信号测试点100连接。

具体地，每条扫描奇线201均通过一个第一开关电路111与扫描奇线测试点113连接，每条扫描偶线202均通过一个第一开关电路111与扫描偶线测试点112连接。

在第一区域102还设置有第一开关电路111的控制信号输入点114。在本实施例中，第一开关电路111是薄膜场效应晶体管，包括源极、漏极和栅极(均未标示)。对于扫描奇线201，其第一开关电路111的源极2011与扫描奇线201连接，漏极2012与扫描奇线测试点113连接，栅极2013与第一开关电路111的控制信号输入点114连接。对于扫描偶线202，其第一开关电路111的源极2021与扫描偶线202连接，漏极2022与扫描偶线测试点112连接，栅极2023与第一开关电路111的控制信号输入点114连接。由此可知，第一开关电路111的源极与扫描信号线连接，漏极与扫描信号测试点100连接，栅极与第一开关电路111的控制信号输入点114连接。

本实施例通过扫描奇线测试点113和扫描偶线测试点112分别对扫描奇线201和扫描偶线202施加扫描信号，通过第一开关电路111的控制信号输入点114来控制第一开关电路111的导通或关闭，由此实现对扫描信号的控制。

通过设置所述第一开关电路111，隔断了相同扫描信号线之间通过测试引线所形成的回路(如图1所示的虚线8所表示的回路)，使相同扫描信号线之间互不影响。

本实施例的第一开关电路111并不限制于上述的薄膜场效应晶体管，还可以是其他的三端式控制开关，如三极管等。

第一区域102还设置有公共电极测试点119，公共电极与公共电极测试点119连接。具体地，公共电极包括彩膜玻璃基板公共电极106和阵列基板公共电极107。彩膜玻璃基板公共电极106与阵列玻璃基板公共电极107均通过导线108与公共电极测试点119连接。

继续参阅图2，短路棒区域的第二区域103设置有多个数据信号测试点200，还设置有多个第一单向电路115。第一单向电路115的输入端连接数据信号测试点200，输出端连接R、G、B数据信号线。其中，数据信号测试点200中包括R信号线测试点116、G信号线测试点117以及B信号线测试点118。

第二区域103设置有多个第一单向电路115。每条R信号线均通过一个第一单向电路115与R信号线测试点116连接，且第一单向电路115的输入端连接R信号线测试点116，输出端连接R信号线。同理地，每条G信号线均通过一个第一单向电路115与G信号线测试点117连接，且第一单向电路115的输入端连接G信号线测试点117，输出端连接G信号线；每条B信号线均通过一个第一单向电路115与B信号线测试点118连接，且第一单向电路115的输入端连接B信号线测试点118，输出端连接B信号线。

本实施例中，第一单向电路115为二极管，二极管的阳极与数据信号测试点200连接，二极管的阴极与数据信号线连接。具体地，每条R信号线与一个二极管的阴极连接，二极管的阳极与R信号线测试点116连接；每条G信号线与一个二极管的阴极连接，二极管的阳极与G信号线测试点117连接；每条B信号线与一个二极管的阴极连接，二极管的阳极与G信号线测试点118连接。

通过设置所述第一单向电路115，隔断了相同数据信号线之间通过测试引线所形成的回路(如图1所示的虚线9所表示的回路)，使相同数据信号线之间互不影响。

当然，本实施例的第一单向电路115并不限制于上述的二极管，还可以是其他的具有单向通路的电路结构。

例如，本实施例也可以设置第二开关电路(图未示)来代替上述的第一单向电路115。当设置为第二开关电路时，在第二区域103设置第二开关电路的控制信号输入点(图未示)。第二开关电路包括第一端、第二端以及控制端，第一端与数据信号测试点连接，第二端与数据信号线连接，控制端与第二开关电路的控制信号输入点连接，以控制第二开关电路在进行产品测试时导通，其余时间断开。

当输入R、G、B数据信号时，第一单向电路115或第二开关电路导通；当停止输入R、G、B数据信号时，第一单向电路115或第二开关电路关闭。

本实施例的液晶面板，将每条扫描奇线201和每条扫描偶线202分别通过一个第一开关电路111与扫描奇线测试点113和扫描偶线测试点112连接，由第一开关电路111控制扫描信号的输入，使每条扫描信号线之间互不影响；将每条R信号线、G信号线以及B信号线分别通过第一单向电路或第二开关电路与对应的R信号线测试点116、G信号线测试点117以及B信号线测试点连接，由第一单向电路或第二开关电路来控制数据信号的输入，使每条数据信号线之间互不影响，由此实现在液晶面板生产过程的组立制程中，节省切断短路棒区域的测试引线的工艺以及切割设备，能够在组立制程后续的生产阶段继续使用短路棒区域的测试引线对液晶面板进行画面检测，提高画面测试的准确性，降低组立制程的成本。

当然，本实施例在第一区域102设置的第一开关电路111、扫描信号测试点100、公共电极测试点119以及第一开关电路111的控制信号输入点114，也可以设置在第二区域103；或者在第二区域103设置的数据信号测试点200、第一单向电路115或第二开关电路以及第二开关电路的控制信号输入点也可以设置在第一区域102，在此不做限制。

本发明还提供一种液晶模组实施例，参阅图3，图3是本发明液晶模组一实施例的结构示意图。本实施例的液晶模组包括液晶面板30、硬质电路板40以及软质电路板50。液晶面板30为上述实施例中所述的液晶面板。

结合图2，液晶面板30的像素区域101设置有多条数据信号线、多条扫描信号线以及公共电极(图2中均未示)，短路棒区域包括第一区域102和第二区域103。其中，多条数据信号线包括多条R信号线、多条G信号线以及多条B信号线；多条扫描信号线包括多条扫描奇线201和多条扫描偶线202；公共电极包括彩膜玻璃基板公共电极106和阵列玻璃基板公共电极107。

进一步地，第一区域102设置有多个第一开关电路111、多个第一扫描信号测试点600(对应图2中扫描信号测试点100)以及第一公共电极测试点304(对应图2中的公共电极测试点119)。第二区域103设置有多个第一数据信号测试点700(对应图2中的数据信号测试点200)，还设置有多个第一单向电路115。其中，多个第一扫描信号测试点600包括第一扫描奇线测试点302和第一扫描偶线测试点303；多个第一数据信号测试点700包括第一R信号线测试点305、第一G信号线测试点306以及第一B信号线测试点307。

每条数据信号线均通过一个第一单向电路115与第一数据信号测试点700连接，第一单向电路115的输入端连接第一数据信号测试点700，输出端连接R、G、B数据信号线。每条扫描信号线均通过一个第一开关电路111与第一扫描信号测试点600连接。公共电极(未标示)通过导线108与第一公共电极测试点304连接。

当然，本实施例所述的第一单向电路115还可以设置为第二开关电路(图未示)。第二开关电路包括第一端、第二端以及控制端，第一端与数据信号测试点连接，第二端与数据信号线连接，控制端与第二开关电路的控制信号输入点连接，以控制第二开关电路在进行产品测试时导通，其余时间断开。

继续参阅图3，硬质电路板40设置有与多个第一扫描信号测试点600一一对应的多个第二扫描信号测试点600’，并且第一扫描信号测试点600与第二扫描信号测试点600’通过软质电路板50电连接。具体地，硬质电路板40设置有与第一扫描奇线测试点302(对应图2中的扫描奇线测试点113)对应的第二扫描奇线测试点402，第一扫描奇线测试点302通过软质电路板50与第二扫描奇线测试点402电连接。硬质电路板40还设置有与第一扫描偶线测试点303(对应图2中的扫描偶线测试点112)对应的第二扫描偶线测试点403，第一扫描偶线测试点303通过软质电路板50与第二扫描偶线测试点403电连接。

同理地，硬质电路板40设置与多个第一数据信号测试点700一一对应的多个第二数据信号测试点700’，并且第一数据信号测试点700与第二数据信号测试点700’通过软质电路板50电连接。具体地，硬质电路板40设置有与第一R信号线测试点305(对应图2中的R信号线测试点116)对应的第二R信号线测试点405，第一R信号线测试点305通过软质电路板50与第二R信号线测试点405电连接。硬质电路板40设置有与第一G信号线测试点306(对应图2中的G信号线测试点117)对应的第二G信号线测试点406，第一G信号线测试点306通过软质电路板50与第二G信号线测试点405电连接。硬质电路板40还设置有与第一B信号线测试点307(对应图2中的B信号线测试点118)对应的第二B信号线测试点407，第一B信号线测试点307通过软质电路板50与第二B信号线测试点407电连接。

硬质电路板40还设置有与第一公共电极测试点304对应的第二公共电极测试点404，并且第一公共电极测试点304通过软质电路板50与第二公共电极测试点404电连接。

进一步地，在液晶面板30的第一区域102还设置有第一开关电路111的第一控制信号输入点301(对应图2中的控制信号输入点114)。对应地，硬质电路板40也设置有与第一开关电路的第一控制信号输入点301对应的第二控制信号输入点401。其中，第一开关电路111的第一控制信号输入点301与第二控制信号输入点401通过软质电路板50电连接。

当液晶面板30的第二区103域设置有第二开关电路(图未示)时，在第二区域103还设置有第二开关电路的第三控制信号输入点(图未示)。对应地，硬质电路板40也会设置有与第二开关电路的第三控制信号输入点对应的第四控制信号输入点(图未示)。其中，第三控制信号输入点与第四控制信号输入点通过软质电路板50电连接。

硬质电路板40还设置有低压差分信号(LVDS，Low VoltageDifferential Signaling)接口408，用于输入液晶面板30的驱动信号。具体地，在进行液晶模组的画面检测时，可通过低压差分信号接口408输入液晶面板30所需的驱动信号以驱动液晶面板30的显示。

综上所述，本实施例的液晶模组，一方面通过在硬质电路板40上设置与液晶面板30的数据信号测试点、扫描信号测试点以及公共电极测试点对应的数据信号测试点、扫描信号测试点以及公共电极测试点，并通过软质电路板50使它们对应电连接，从而可以通过给硬质电路板40上的测试点施加相应的信号电压，所述信号电压通过组立制程工艺的短路棒区域的测试引线驱动液晶面板30的显示，即可进行液晶面板30的画面检测。另一方面，还可以通过硬质电路板40上的低压差分信号接口408输入液晶面板30所需的驱动信号以驱动液晶面板30的显示，两条测试通路的分别测试，在测试出问题时可以判断出是哪个阶段的制程问题(具体过程和原理见下面“厘清液晶模组画面不良的原因的方法”的描述)。也就是说，通过本实施例的液晶模组，能够实现在产品画面出现不良时，厘清是组立制程工艺的原因还是模组制程工艺的原因，从而有助于进行画面不良的改进。

本发明还提供一种厘清液晶模组画面不良的原因的方法，其中，液晶模组为上述实施例中所述的液晶模组。参阅图4，并结合图3，图4是本发明厘清液晶模组画面不良的原因的方法一实施例的流程图，包括步骤：

步骤101：在硬质电路板上的低压差分信号接口输入液晶面板所需的第一测试信号，使所述第一测试信号通过第一通路进入液晶面板，以驱动液晶面板显示。

在液晶显示器中，低压差分信号接口电路包括两部分，即驱动板侧的低压差分信号输出接口电路和液晶面板侧的低压差分信号输入接口电路。输出接口电路将驱动板主控芯片输出的17L电平并行的RGB数据信号和控制信号转换成低电压串行差分信号，然后通过驱动板与液晶面板之间的柔性电缆将信号传送到液晶面板侧的低压差分信号输入接口电路，输入接口电路再将串行信号转换为TTL电平的并行信号，送往液晶面板时序控制与行列驱动电路，以驱动液晶面板的显示。

在完成液晶模组制程后，需要对液晶面板30进行画面检测。可在硬质电路板40上的低压差分信号接口408输入液晶面板30所需的第一测试信号，该测试信号通过低压差分信号接口电路进入液晶面板30，以驱动液晶面板30显示，实现液晶面板30的画面检测。

步骤102：在液晶面板显示不良时，终止在所述低压差分信号接口输入第一测试信号。

从低压差分信号接口408输入第一测试信号使液晶面板30点亮，以检测画面是否良好。当画面显示不良时，需要厘清出现画面不良的原因，此时停止在低压差分信号接口408输入所述第一测试信号。

步骤103：使第二测试信号通过第二通路进入液晶面板，以驱动液晶面板显示。

第二通路由硬质电路板40的第二测试点(未标示)通过软质电路板50与液晶面板30的第一测试点(未标示)电连接形成。

具体地，硬质电路板40的第二测试点包括第二扫描信号测试点600’、第二控制信号输入点401、第二公共电极测试点404以及第二数据信号测试点700’。液晶面板30第一测试点包括第一扫描信号测试点600、第一控制信号输入点301、第一公共电极测试点304以及第一数据信号测试点700。其中，第二扫描信号测试点600’包括第二扫描奇线测试点402、第二扫描偶线测试点403；第二数据信号测试点700’包括第二R信号线测试点405、第二G信号线测试点406以及第二B信号线测试点407。第一扫描信号测试点600包括第一扫描奇线测试点302、第一扫描偶线测试点303；第一数据信号测试点700包括第一R信号线测试点305、第一G信号线测试点306以及第一B信号线测试点307。硬质电路板40的第二测试点通过软质电路板50与液晶面板30的第一测试点对应电连接。

由于液晶面板30在组立制程中未切断短路棒区域的测试引线，因此，在硬质电路板40的401～407测试点输入液晶面板30所需的第二测试信号后，测试信号可通过液晶面板30的301～307测试点进入液晶面板30，使液晶面板30点亮以检测画面。

步骤104：判断输入所述第二测试信号后液晶面板是否显示不良，若显示不良则判断为液晶面板组立制程造成的缺陷，否则判断为液晶模组制程造成的缺陷。

在执行步骤101时，是通过模组制程的低压差分信号接口电路对液晶面板30提供测试信号，以驱动液晶面板30显示。若液晶面板30画面显示不良，此时无法判断画面显示不良是液晶面板组立制程工艺造成的还是液晶模组制程工艺造成，因为从低压差分信号接口电路输入的测试信号依次经过组立和模组两个制程形成的电路和结构，任一制程得到的电路和结构出现问题，都可能导致画面显示不良。为了厘清画面不良原因，通过第二通路输入液晶面板30所需的第二测试信号，通过液晶面板组立制程的短路棒区域的测试引线直接驱动液晶面板30显示，避免让测试信号经过模组制程所形成的电路和结构。此时若画面显示不良，说明液晶面板组立制程工艺肯定已经造成缺陷，同时模组制程也可能造成缺陷；若画面显示良好，说明组立制程并没有造成缺陷，而应该是液晶模组制程工艺造成的缺陷。

参阅图5，并结合图3，图5是图4中使第二测试信号通过第二通路进入液晶面板的步骤的流程图，包括步骤：

步骤201：在硬质电路板的第二公共电极测试点处输入公共电极基准电压。

在硬质电路板40的第二公共电极测试点404输入公共电极基准电压，由于第二公共电极测试点404通过软质电路板50与液晶面板30的第一公共电极测试点304电连接，因此公共电极基准电压可提供给液晶面板30的公共电极。

步骤202：在硬质电路板的第二控制信号输入点处输入控制信号使所述液晶面板的第一开关电路处于导通状态。

所述的控制信号可以为高电平，对第二控制信号输入点401输入高电平，可以使液晶面板30的第一开关电路处于导通状态。

步骤203：给硬质电路板的第二扫描信号测试点分别输入扫描信号，使所述扫描信号通过第一开关电路提供给扫描数据线。

具体地，根据点灯检查的需要，给硬质电路板40的第二扫描奇线测试点402和第二扫描偶线测试点403分别输入VgH和VgL的扫描信号，进而使液晶面板30的第一扫描奇线测试点302和第一扫描偶线测试点303有VgH和VgL的扫描信号，所述扫描信号通过液晶面板30的第一开关电路提供给扫描数据线。

步骤204：给硬质电路板的第二数据信号测试点分别输入数据信号，使所述数据信号通过第一单向电路或第二开关电路提供给数据信号线，以驱动液晶面板显示。

具体地，在硬质电路板40的第二R信号线测试点405、第二G信号线测试点406以及第二B信号线测试点407分别输入R、G、B显示信号，进而使液晶面板30的第一R信号线测试点305、第一G信号线测试点306以及第一B信号线测试点307有R、G、B显示信号，所述显示信号通过液晶面板30的第一单向电路或第二开关电路提供给数据信号线，以实现面板的点亮。

综上所述，在本实施例中，当执行步骤101后，出现画面不良时，为了厘清出现画面不良是液晶面板组立制程工艺造成的还是液晶模组制程工艺造成，因为从低压差分信号接口电路输入的测试信号依次经过组立和模组两个制程形成的电路和结构，任一制程得到的电路和结构出现问题，都可能导致画面显示不良。为了厘清画面不良原因，可在硬质电路板40的第二测试点输入液晶面板30所需的第二测试信号，通过液晶面板组立制程的短路棒区域的测试引线直接驱动液晶面板30显示，避免让测试信号经过模组制程所形成的电路和结构。此时，若液晶面板30画面显示良好，说明组立制程并没有造成缺陷，而应该是液晶模组制程工艺造成的缺陷，若液晶面板30画面也显示不良，说明液晶面板组立制程工艺肯定已经造成缺陷，同时模组制程也可能造成缺陷，由此可厘清在步骤101时出现画面不良的原因是因为液晶面板组立制程工艺还是因为液晶模组制程工艺，从而有助于画面不良的改进。

以上所述仅为本发明的实施例，并非因此限制本发明的专利范围，凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本发明的专利保护范围内。