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钝化InAs/GaSb二类超晶格红外探测器制作方法

摘要

一种钝化InAs/GaSb二类超晶格红外探测器制作方法,包括:采用金属化学有机气相沉积方法或分子束外延方法,在衬底上依次生长缓冲层、二类超晶格层、本征二类超晶格光吸收层、N型二类超晶格层和N型欧姆接触层,形成外延片;对外延片进行光刻,然后采用湿法腐蚀或干法刻蚀的方法,对外延片进行腐蚀或刻蚀;使用甩胶机在刻蚀后的外延片的表面上涂覆树脂材料;进行曝光;进行中烘,显影,在涂覆树脂材料的外延片上形成上电极和光进入窗口和下电极窗口,制作电极材料;对电极材料进行光刻,形成上电极和下电极;本发明是采用该制作方法钝化的器件具有较低的暗电流,ROA增加;其具有制造工艺不复杂、钝化膜强度大,钝化效果好等特点。

著录项

  • 公开/公告号CN102569521A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-07-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院半导体研究所;

    申请/专利号CN201210023049.X

  • 发明设计人 曹玉莲;马文全;张艳华;

    申请日2012-02-02

  • 分类号H01L31/18(20060101);

  • 代理机构11021 中科专利商标代理有限责任公司;

  • 代理人汤保平

  • 地址 100083 北京市海淀区清华东路甲35号

  • 入库时间 2023-12-18 06:04:22

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2014-08-27

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):H01L31/18 申请公布日:20120711 申请日:20120202

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2012-09-12

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L31/18 申请日:20120202

    实质审查的生效

  • 2012-07-11

    公开

    公开

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