首页> 中国专利> 一种判断存储系统振动是否达标的测试方法

一种判断存储系统振动是否达标的测试方法

摘要

本发明公开了一种判断存储系统振动是否达标的测试方法,属于存储系统技术领域,测试软件为性能测试软件Iometre,方法是采取在不同的位置不同的环境,测试硬盘性能,通过不同情况下的性能测试结果比较,来衡量系统是否达标,具体为:(1)将硬盘放置机箱外面测试,运行Iometre测试硬盘顺序写性能,(2)将上述单块硬盘放置在存储机箱的各个受机箱硬件影响的位置运行Iometre测试硬盘顺序写性能,比较是否受机箱硬件影响比较大;(3)将上述单块硬盘放在满盘位上测试Iometre硬盘顺序写性能,判断硬盘之间共振是否比较大。本发明和现有技术相比,具有成本低、操作方法简单方便、测试结果准确等特点。

著录项

  • 公开/公告号CN102522101A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-06-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 浪潮电子信息产业股份有限公司;

    申请/专利号CN201110421762.5

  • 发明设计人 唐远琳;

    申请日2011-12-16

  • 分类号G11B20/18;

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 250101 山东省济南市高新区舜雅路1036号

  • 入库时间 2023-12-18 05:43:00

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-02-18

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G11B20/18 申请公布日:20120627 申请日:20111216

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2012-09-05

    实质审查的生效 IPC(主分类):G11B20/18 申请日:20111216

    实质审查的生效

  • 2012-06-27

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号