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用于X射线荧光检测痕量贵金属的预富集制样方法

摘要

本发明公开了一种用于X射线荧光检测痕量贵金属的预富集制样方法。该方法是先合成β-环糊精交联树脂,然后将其粉碎过筛,加入到配好的待测贵金属标准溶液中,充分振荡后用水系微孔滤膜抽滤,使富集产物附着到滤膜上并均匀集中到X射线荧光的测量面积范围内,烘干后保持平整即可。本发明方法克服了X射线荧光光谱法检测贵金属样品时,采用常规制样方法检出限较高及难以进行含痕量金属的液体样品检测问题,具有设备简单、耗时短、操作简便等优势,拓宽了X射线荧光法在痕量金属检测方面的应用。

著录项

  • 公开/公告号CN102288460A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2011-12-21

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国地质大学(武汉);

    申请/专利号CN201110118980.1

  • 申请日2011-05-10

  • 分类号G01N1/28;G01N23/223;

  • 代理机构武汉华旭知识产权事务所;

  • 代理人刘荣

  • 地址 430074 湖北省武汉市洪山区鲁磨路388号

  • 入库时间 2023-12-18 04:00:10

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2014-05-07

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01N1/28 申请公布日:20111221 申请日:20110510

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2012-02-08

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N1/28 申请日:20110510

    实质审查的生效

  • 2011-12-21

    公开

    公开

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