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用于通过受抑全内反射来探测目标颗粒的传感器装置

摘要

本发明涉及一种用于探测载体(11)的接触表面(12)处的目标颗粒(1)的光学传感器装置(100),所述传感器装置包括:光源(21、22),用于发射入射光束(L1)到所述载体(11)中,使得所述入射光束被在所述接触表面(12)全内反射成并由目标颗粒(1)部分散射成输出光束(L2)。所述传感器装置还包括光学系统(30),用于将所述输出光束(L2)引导至光探测器(50)上,其中所述光学系统(30)中的滤光器(32)抑制全内反射光分量(L2d)。所述探测器因此主要测量散射光部分(L2s)。

著录项

  • 公开/公告号CN102227625A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2011-10-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 皇家飞利浦电子股份有限公司;

    申请/专利号CN200980147902.5

  • 发明设计人 J·J·H·B·施莱彭;

    申请日2009-11-26

  • 分类号G01N21/51;G01N21/64;G01N33/543;

  • 代理机构永新专利商标代理有限公司;

  • 代理人陈松涛

  • 地址 荷兰艾恩德霍芬

  • 入库时间 2023-12-18 03:34:35

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2013-10-23

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01N21/51 申请公布日:20111026 申请日:20091126

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2012-02-01

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N21/51 申请日:20091126

    实质审查的生效

  • 2011-10-26

    公开

    公开

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