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用于存储装置的基于性能因素调节的软数据生成方法装置

摘要

提供了基于性能因素调节的用于存储装置的软数据生成的方法和装置。通过如下步骤为存储装置产生至少一个软数据值:获得至少一个读取值;以及基于所获得的至少一个读取值和根据所述存储装置的一个或更多个性能因素的调节来产生软数据值。所述读取值可以包括例如数据比特、电压电平、电流等级、或者电阻等级。读取值可以是软数据或者硬数据。可能的性能因素包括耐久性、读取周期数、保持时间、温度、工艺角、单元间干扰影响、存储器阵列内的位置和侵略者单元图案。还可以考虑一个或更多个取决于图案的性能因素和/或特定于位置的性能因素。所产生的软数据值可以是用于产生一个或更多个对数似然比的软读取值,或者可以是对数似然比本身。

著录项

  • 公开/公告号CN102171767A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2011-08-31

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 LSI公司;

    申请/专利号CN200980138327.2

  • 发明设计人 E·F·哈拉特什;J·延;

    申请日2009-09-30

  • 分类号G11C16/26(20060101);G11C16/34(20060101);G11C7/10(20060101);G11C11/56(20060101);

  • 代理机构中国国际贸易促进委员会专利商标事务所;

  • 代理人金晓

  • 地址 美国加利福尼亚

  • 入库时间 2023-12-18 03:17:32

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-04-29

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G11C16/26 申请公布日:20110831 申请日:20090930

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2011-11-23

    实质审查的生效 IPC(主分类):G11C16/26 申请日:20090930

    实质审查的生效

  • 2011-08-31

    公开

    公开

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