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电子元件测试方法、插入件、托盘及电子元件测试装置

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摘要

插入件(710)的器件载体(760)的底板(760a)具有实际上等于从IC器件的主体(901)引出的焊锡球(HB)的高度(A)和测试时接触引脚(51)从插座(50)的壳体(52)突出的第1突出量(Cop)之和的厚度(B)，在底板(760a)夹在主体(901)和壳体(52)之间的状态下，将IC器件按压到插座(50)，使IC器件的焊锡球(HB)与插座(50)的接触引脚(51)电接触，进行IC器件的测试。

著录项

公开/公告号CN102084260A

专利类型发明专利
公开/公告日2011-06-01

原文格式PDF
申请/专利权人株式会社爱德万测试;
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申请/专利号CN200980126778.4
发明设计人筬部明浩;
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申请日2009-06-18
分类号G01R31/26;
代理机构深圳市顺天达专利商标代理有限公司;
代理人高占元
地址日本国东京都
入库时间 2023-12-18 02:26:11

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2013-11-06

发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01R31/26 申请公布日:20110601 申请日:20090618

发明专利申请公布后的视为撤回
2011-07-20

实质审查的生效 IPC(主分类):G01R31/26 申请日:20090618

实质审查的生效
2011-06-01

公开

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