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用于分析流体、膏状或固体物质的特性参数的光谱仪测量头

摘要

本发明涉及一个用于分析流体、膏状或固体物质的特性参数的、用于光谱仪系统的光谱仪测量头(12)。其特征尤其在于拥有一个长时间稳定的、少维护的且简单构成的光谱仪测量头。为此在外壳(6)里面设置可旋转支承的镜子(1)和至少一个光辐射源(2)或一个输出耦合光辐射的装置使得:光辐射通过可旋转支承的镜子的偏转,或者入射到外壳里面的基准体(3)上或者通过外壳的窗口(7)入射到要被分析的物质(14)上。为此使镜子(1)机械地耦联在驱动装置(4)或耦联在外壳中也作为弯曲振动器的弯曲梁上。此外在外壳里面设置至少一个光导(5)使得:至少一部分由基准体或要被分析的物质表面反射或透射的光辐射耦合输入到光导里面。在光谱仪测量头中有利地将光辐射源与发光机构结合成整体,由此能够低损耗地照射物质或基准体。

著录项

  • 公开/公告号CN101981435A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2011-02-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN200880118506.5

  • 发明设计人 U·基尔申奈尔;M·劳;

    申请日2008-11-28

  • 分类号G01N21/47;G01N21/27;G02B7/182;

  • 代理机构北京泛华伟业知识产权代理有限公司;

  • 代理人王勇

  • 地址 德国德累斯顿

  • 入库时间 2023-12-18 01:56:30

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2013-03-27

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01N21/47 申请公布日:20110223 申请日:20081128

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2011-04-06

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N21/47 申请日:20081128

    实质审查的生效

  • 2011-02-23

    公开

    公开

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