处理由读取光储存媒体产生的读回信号的方法及其装置

摘要

本发明提供一种处理由读取光储存媒体产生的读回信号的方法及其装置。其中处理由读取光储存媒体产生的读回信号的方法，包括：根据所述读回信号实施缺陷检测并产生缺陷检测结果，所述缺陷检测结果用于指示所述光储存媒体上的缺陷区域；以及根据所述缺陷检测结果，对与处理所述读回信号相关的至少一个参数实施参数校准。利用本发明能够正确译码读回信号中包含的信息并改善读取光储存媒体上缺陷区域性能。

说明书

技术领域

本发明有关于处理读取光储存媒体(optical storage medium)所产生的读回信号(readback signal)的方法和装置。

背景技术

光储存媒体(例如只读光盘、可录式光盘或可再写光盘)已成为当前流行的数据载体。通常地，通过向记录层(recording layer)发射激光束(laser beam)并接着检测自该记录层反射的信号来读取该记录层(即反射层)，以对所储存数据进行复制。为保护记录层(反射层)，通常于记录层上形成保护层，例如由聚碳酸酯(polycarbonate)组成的保护层。因此，激光二极管(laser diode)发射的激光束在到达记录层(即反射层)前必须穿过保护层；类似地，自记录层(即反射层)反射的激光束在光传感器(photo sensor)检测到前必须穿过保护层。因此，光传感器检测到的反射激光束的信号质量实际上受到保护层的影响。

然而，由于保护层表面上的刮痕、灰尘或者指纹，光盘可能存在缺陷区域。参考图1，图1为自光盘反射的信号产生的射频(radio frequency，RF)信号示意图，该光盘由于刮痕具有缺陷区域。当光盘的保护层具有刮痕时，刮痕可能严重损坏保护层的光传输特性。如图所示，当光学读写头向刮痕导致的缺陷区域发射激光束时，RF信号RF 1的一段信号部分P1大约消失(即信号幅度相当低)。因此，正确译码RF信号的此信号部分P1非常困难。

参考图2，图2为光盘的反射信号所产生的射频信号示意图，该光盘由于指纹或灰尘具有缺陷区域。当光盘的保护层具有指纹或灰尘时，指纹或灰尘不会严重损坏保护层的光传输特性。如图所示，当光学读写头向指纹或灰尘导致的缺陷区域发射激光束时，RF信号RF_2的一段信号部分P2幅度比正常的信号低。因为与图1的信号部分P1相比，信号部分P2没有完全消失(即信号幅度减小但是高于可接受的位准)，因此有可能译码信号部分P2以获得信号部分P2传输的信息。然而，当信号部分P2的信号质量不满足最低译码需求时，也有可能译码信号部分P2失败。

参考图3，图3为光盘的反射信号所产生的另一射频信号示意图，该光盘由于指纹或灰尘具有缺陷区域。如图所示，当光学读写头向指纹或灰尘导致的缺陷区域发射激光束时，RF信号RF_3的一段信号部分P3有显著的幅度变形。类似地，因为与图1的信号部分P1相比，信号部分P3没有完全消失(即信号幅度减小但是仍高于可接受的电平)，因此有可能译码信号部分P3以获得信号部分P3传输的信息。

如上所述，受指纹/灰尘影响的RF信号没有完全消失。因此，如何处理受指纹/灰尘影响的RF信号以允许下面的译码过程，得以正确获得受指纹/灰尘影响的RF信号传输的信息成为设计者的重要难题。换句话说，需要一种改善读取光储存媒体上缺陷区域性能的方法和装置，尤其是由指纹/灰尘导致的缺陷区域。

发明内容

为了正确获得受指纹/灰尘影响的RF信号传输的信息，并改善读取光储存媒体上缺陷区域性能，尤其是由指纹/灰尘导致的缺陷区域，本发明提供一种处理由读取光储存媒体产生的读回信号的方法及其装置。

本发明提供一种处理由读取光储存媒体产生的读回信号的方法，包括：根据所述读回信号实施缺陷检测并产生缺陷检测结果，所述缺陷检测结果用于指示所述光储存媒体上的缺陷区域；以及根据所述缺陷检测结果，对与处理所述读回信号相关的至少一个参数实施参数校准。

本发明另提供一种处理由读取光储存媒体产生的读回信号的装置，包括：缺陷检测区块，用于根据所述读回信号实施缺陷检测以产生缺陷检测结果，所述缺陷检测结果用于指示所述光储存媒体上的缺陷区域；以及参数校准区块，耦接于所述缺陷检测区块，用于根据所述缺陷检测结果，对与处理所述读回信号相关的至少一个参数实施参数校准。

本发明另提供一种处理由读取光储存媒体产生的读回信号的方法，包括：根据所述读回信号获取所述光储存媒体的识别信息；对与处理所述读回信号相关的至少一个参数实施参数校准，据此获取所述至少一个参数的校准参数设置；以及记录所述识别信息指示的所述校准参数设置至储存设备。

本发明另提供一种处理由读取光储存媒体产生的读回信号的装置，包括：光储存存取区块，用于读取所述光储存媒体以获取所述读回信号，并根据所述读回信号获取所述光储存媒体的识别信息；参数校准区块，耦接于所述光储存存取区块，用于对与处理所述读回信号相关的至少一个参数实施参数校准，据此获取所述至少一个参数的校准参数设置；储存设备；以及控制区块，耦接于所述参数校准区块、所述光储存存取区块和所述储存设备，用于记录所述识别信息指示的所述校准参数设置至所述储存设备。

利用本发明能够正确译码读回信号中包含的信息并改善读取光储存媒体上缺陷区域性能。

以下为根据多个图式对本发明较佳实施例进行详细描述，本领域技术人员阅读后应可明确了解本发明的目的。

附图说明

图1为光盘的反射信号产生的射频信号示意图，该光盘由于刮痕具有缺陷区域。

图2为光盘的反射信号产生的射频信号示意图，该光盘由于指纹或灰尘具有缺陷区域。

图3为光盘的反射信号产生的另一射频信号示意图，该光盘由于指纹或灰尘具有缺陷区域。

图4为根据本发明一个实施例的光储存装置的方块示意图。

图5为缺陷检测区块实施缺陷检测的示意图。

图6为图4所示的光储存装置使用的参数校准方法的第一实施例流程图。

图7为当光学读写头存取光储存媒体上的缺陷区域时无参数校准被使能的典型例子示意图。

图8为当光学读写头存取光储存媒体上的缺陷区域时无参数校准被使能的典型例子示意图。

图9为图4所示的光储存装置使用的参数校准方法的第二实施例流程图。

图10为根据图6所示的参数校准方法相应于缺陷区域和正常区域的参数设置示意图。

图11为根据图9所示的参数校准方法相应于缺陷区域和正常区域的参数设置示意图。

图12为根据本发明另一典型实施例的光储存装置的方块示意图。

图13为图12所示的光储存装置使用的参数校准方法第一实施例的流程图。

图14为图12所示的光储存装置使用的参数校准方法第二实施例的流程图。

具体实施方式

在说明书及后续的申请专利范围当中使用了某些词汇来指称特定的组件。所属领域技术人员应可理解，硬件制造商可能会用不同的名词来称呼同一个组件。本说明书及申请专利权利要求并不以名称的差异来作为区分组件的方式，而是以组件在功能上的差异来作为区分的准则。在通篇说明书及申请专利权利要求当中所提及的“包含”为一开放式的用语，故应解释成“包含但不限定于”。以外，“耦接”一词在此为包含任何直接及间接的电性连接手段。因此，若文中描述第一装置耦接于第二装置，则代表该第一装置可直接电性连接于该第二装置，或透过其它装置或连接手段间接地电性连接至该第二装置。

图4为根据本发明典型实施例的光储存装置的方块示意图。光储存装置300(例如光盘驱动器)包括转轴马达(spindle motor)302、光学读写头304、伺服与功率控制区块306、信号产生区块308、读取通道区块310、缺陷检测区块312、参数校准区块314和校准控制区块316。当光储存媒体(例如光盘301)加载至光储存装置300时，激活转轴马达302使光盘301以所需旋转速率旋转。光学读写头304经由操作发射具有特定读取功率的激光束至光盘301，以从光盘301读取数据。若光盘301为可录式光盘或可再写光盘，光储存装置300的光学读写头304可经由配置发射具有特定写入功率的激光束至光盘301。光学读写头304的操作由伺服与功率控制区块306控制。应用至光学读写头304的伺服控制机制和功率控制机制已为本领域的普通技术人员所熟知，这里不再赘述。

本实施例中，信号产生区块308包括信号合成器(synthesizer)322和信号处理器324，其中信号处理器324包括极值追踪单元(extreme value tracking unit)326和滤波单元328。根据自光盘301反射并接着由光学读写头304中的光传感器(图中未显示)检测的信号，信号合成器322产生读回信号S1(例如RF信号)。信号处理器324处理读回信号S 1以产生已处理读回信号(例如已处理RF信号)S2。信号处理器324中，极值追踪单元326用于追踪读回信号S1的预设类型极值并产生极值追踪结果，滤波单元328用于对极值追踪结果实施滤波操作以产生已处理读回信号S2。在一个典型实施例中，极值追踪单元326可使用峰值保持电路以追踪读回信号S1的峰值，滤波单元328可使用低通滤波器以滤除峰值保持电路输出中的高频成分。接着，已处理读回信号S2进入下面的缺陷检测区块312以进行下一步信号处理，详述如下。请注意，这里信号处理器324的实施仅为一个例子，本发明并不限于此。用于处理读回信号S1以产生用于缺陷检测区块312的已处理读回信号的信号处理器324可依据设计需求来使用。

在此典型实施例中，缺陷检测区块312包括第一限幅器(slicer)332、第二限幅器334和决策逻辑(decision logic)单元336。第一限幅器332用于依据第一限幅值SL1对已处理读回信号S2进行限幅以产生第一限幅结果SR1，第二限幅器334用于依据第二限幅值SL2对已处理读回信号S2进行限幅以产生第二限幅结果SR2，决策逻辑单元336依据第一限幅结果SR1和第二限幅结果SR2产生缺陷检测结果S3。可参考图5，图5为缺陷检测区块312实施缺陷检测的示意图。如上所述，当光学读写头304存取由刮痕导致的缺陷区域时，信号部分P1大约消失(即信号幅度相当低)；当光学读写头304存取由指纹/灰尘导致的缺陷区域时，信号部分P2或P3没有完全消失(即信号幅度减小但是高于可接受的值)。因此，分别依据刮痕和指纹/灰尘所导致缺陷区域的信号特征，第一限幅值SL1配置为低于第二限幅值SL2。第一限幅值SL1特别设计为识别刮痕导致的缺陷区域，而第二限幅值SL2特别用于识别刮痕或指纹/灰尘导致的缺陷区域。在本实施例中，决策逻辑单元336对第一限幅结果SR1和第二限幅结果SR2实施异或(XOR)运算，据此产生缺陷检测结果S3(即S3＝SR1 XOR SR2)。如图5所示，缺陷检测结果S3可指示仅由指纹/灰尘导致的缺陷区域。换句话说，依据特定应用的设计需求，根据第一限幅器332和第二限幅器334产生的限幅结果，决策逻辑单元336可配置为能鉴别(discriminate)刮痕导致的缺陷区域与指纹/灰尘导致的缺陷区域。然而，本发明并不仅限于此。使用一个或多个限幅器以识别光储存媒体上的缺陷区域的任何应用依然遵从本发明的精神。

在图4所示的典型实施例中，缺陷检测区块312包括两个个体限幅器。然而，在一种替代设计中，缺陷检测区块312可修改为包括一个限幅器和决策逻辑单元336。在第一时间段，相应于特定磁道区(track sector)限幅器使用第一限幅值SL1对已处理读回信号S2限幅。第一限幅结果SR1发现的任何缺陷区域由决策逻辑单元336识别为刮痕导致的缺陷区域。在第二时间段，相应于相同的特定磁道区限幅器使用第二限幅值SL2对已处理读回信号S2限幅。第二限幅结果SR2发现的任何缺陷区域由决策逻辑单元336识别为刮痕或指纹/灰尘导致的缺陷区域。藉此，在缺陷检测区块312中，相同的缺陷检测结果可从使用相同的限幅器甚至单个限幅器的两个连续的限幅操作中获得。

在另一个替代设计中，缺陷检测区块312可修改为包含第二限幅器334和决策逻辑单元336。也就是说，在该替代设计删除第一限幅器332，其中第一限幅器332用于产生可指示刮痕导致的缺陷区域的限幅结果。藉此，第二限幅结果SR2直接作为缺陷检测区块312产生的缺陷检测结果S3。以使用高通滤波器处理读回信号(即RF信号)S1中相应于指纹/灰尘导致的缺陷区域的信号部分为例。图1的信号部分P1可由第二限幅器334识别；然而，由于信号部分P1的信号幅度相当小，因此信号部分P1的高通滤波结果与未经滤波的信号部分P1大约相同。换句话说，即使缺陷检测结果是第二限幅结果SR2而非第一限幅结果SR1和第二限幅结果SR2的组合逻辑结果，高通滤波结果仍然相同。

需注意，使用一个或多个限幅器以发现刮痕或指纹/灰尘导致的缺陷区域的上述替代实施例均遵从本发明精神，并均属于本发明所主张范围。

简言之，依据设计需求，缺陷检测结果S3可设置为组合逻辑结果(例如第一限幅结果SR1和第二限幅结果SR2的XOR结果)、第一限幅结果SR1或第二限幅结果SR2。举例来说，若对读回信号S1进行高通滤波以促进相应于缺陷区域的信号部分的译码时，第一限幅结果SR1和第二限幅结果SR2的组合逻辑结果或第二限幅结果SR2优先选择为缺陷检测结果S3以指示何时启动调整高通滤波操作。进一步的详细描述如下。

缺陷检测区块312产生的缺陷检测结果S3传输至参数校准区块314。参数校准区块314根据输入的缺陷检测结果S3对与处理读回信号S1相关的至少一个参数实施参数校准。光学读写头304存取指纹/灰尘导致的缺陷区域时，图5所示的缺陷检测结果S3通知参数校准区块314，并且参数校准区块314被使能以依据设计需求校准至少一个读取通道参数、至少一个伺服参数或读取通道参数和伺服参数的组合。也就是说，参数校准区块314调整在读取通道区块310中应用的读取通道参数和/或在伺服与功率控制区块306中应用的伺服参数。典型的读取通道参数可以为限幅器带宽、维特比(Viterbi)带宽、锁相环带宽、部分相应最大似然(Partial Response Maximum Likelihood，PRML)靶标值(target level)、译码策略、RF信号高通滤波带宽或RF信号幅度。伺服参数可以为聚焦增益(focus gain)或散焦设置(defocus setting)。请注意，上述参数例子仅用于说明本发明，并非用于限制本发明。任何相关于缺陷检测结果的实现均遵从本发明精神，并均属于本发明所主张范围，其中该缺陷检测结果用于选择性使能至少一个参数的参数校准。

并且，根据缺陷检测结果S3，高通滤波器(high-pass filter，HPF)342也可被选择性调整以对读回信号S1进行高通滤波，其中高通滤波器342是通常于读取通道区块310中实现的典型组件。通常地，光学读写头304正在对正常区域或缺陷区域进行存取时，高通滤波器342用于对输入信号实施高通滤波；然而，本发明的一种实现中，光学读写头304正在对缺陷区域进行存取时，高通滤波器342的滤波特性可以被调整。举例来说，当光学读写头304正在对例如指纹/灰尘导致的缺陷区域进行存取时，则调整高通滤波器342并且对读回信号S1实施高通滤波以产生已滤波读回信号S1’，接着译码器344译码从高通滤波器342接收的已滤波读回信号S1’。换句话说，在一种实现中，当光学读写头304存取根据缺陷检测结果S3识别的缺陷区域时，可选择性调整高通滤波器342并且使能参数校准区块314。如图2和图3所示，指纹/灰尘可能导致读回信号S1中受影响的信号部分不对称，这将增加译码相应于指纹/灰尘导致的缺陷区域的信号部分的难度。因此，在本发明的典型实施例中，高通滤波器342也能够使读回信号S1中受影响的信号部分更对称，促进相应于指纹/灰尘导致的缺陷区域的信号部分的译码，其中高通滤波器342通常在读取通道区块310中实现并且在缺陷区域被存取时可以进行调整。简言之，通过对读回信号S1进行高通滤波并对读取通道参数和/或伺服参数进行参数校准，图5所示信号部分P2或P3传输的信息可成功译码。

请注意，根据缺陷检测结果对读回信号的高通滤波进行选择性调整或对至少一个参数(例如读取通道参数或伺服参数)进行参数校准的任何应用均遵从本发明精神，并均属于本发明所主张范围。

在光储存装置300中，根据从处理读回信号S1中获取的信号质量指数S4，校准控制区块316控制参数校准区块314。举例来说，信号质量指数S4可以为从读回信号S1中获取的同步信号的信号质量(例如SYNC_OK信号)或与译码读回信号S1相关的译码质量(例如错误检测码EDC或正确译码的标识，或译码错误计数)。以SYNC_OK信号作为信号质量指数S4为例。当读回信号S1具有足够好的信号质量，可不间断地获得SYNC信号。也就是说，指示SYNC信号状态的SYNC_OK信号将得到保持(例如保持在高逻辑电平)。然而，当读回信号S1不具有满足最小需求的信号质量时，SYNC信号将具有同步错误(sync loss)，结果SYNC OK信号将具有低逻辑电平以指示如此状况。由于SYNC_OK信号的特定信号特征，SYNC_OK信号可因此作为信号质量指数S4以指示参数校准是否已使用优化参数设置校准参数。

通常上，当译码错误计数超过特定值时，读回信号(例如RF信号)S1变得不可纠正，即是说，读回信号S1具有较差的信号质量并且难以正确译码。因此，当光盘301为CD时，C2译码错误计数可作为信号质量指数；当光盘301为DVD或HD-DVD时，外码奇偶校验(Parity of the Outer code，PO)译码错误计数可作为信号质量指数；当光盘301为蓝光光盘(如Blu-ray disc，BD)时，长程码(Long Distance Code，LDC)译码错误计数可作为信号质量指数。如在相关领域中所熟知的，DVD或HD-DVD的PO译码和CD的C2译码对信号质量更敏感。举例来说，如果数据区块的PO译码错误计数或C2译码错误计数等于1，则可能整个数据区块的质量较差。请注意，即使DVD/HD-DVD的内码奇偶校验(Parity of the Inner code，PI)译码和CD的C1译码对信号质量不如此敏感，并非意味着PI译码错误计数/C1译码错误计数不能作为信号质量指数。举例来说，如果数据区块的PI译码错误计数或C1译码错误计数大于错误累积阈值(accumulation threshold)，则意味着在相同数据区块中过多的译码错误，该数据区块由于读回信号的较差信号质量可能不可校正。因此，PI译码错误计数或C1译码错误计数也可作为信号质量指数。

图6为图4所示的光储存装置300使用的参数校准方法的第一实施例流程图。请注意，若结果实质上相同，无需严格按照图6所示的顺序执行步骤。参数校准操作的流程包括下述步骤：

步骤600：开始。

步骤602：检查缺陷检测结果以决定光学读写头是否将存取光储存媒体(例如光盘)上的缺陷区域。如果是，执行步骤604；否则，执行步骤602，继续监视缺陷检测结果。

步骤604：使能参数校准。

步骤606：通过指定校准参数设置校准至少一个参数，以代替参数的初始参数设置，其中至少一个参数包括读取通道参数、伺服参数或二者的组合。

步骤608：检查信号质量指数是否满足预设标准。如果是，执行步骤612；否则执行步骤610。

步骤610：通过对参数指定另一校准参数设置以校准参数。执行步骤608。

步骤612：禁能参数校准。

步骤614：保持对参数的最终校准参数设置。

步骤616：检查光学读写头是否完成存取缺陷区域。如果是，执行步骤618；否则，执行步骤616继续监视。

步骤618：将参数从校准参数设置恢复为初始参数设置。其中，校准参数设置由参数校准(由于存取缺陷区域而使能)所指定。执行步骤602继续监视缺陷检测结果。

如图6的流程所示，参数校准区块314不会停止校准参数直到信号质量指数满足预设标准。举例来说，若SYNC_OK信号作为信号质量指数，只有当SYNC_OK信号没有同步错误时，预设标准才被满足。参考图7和图8。图7为当光学读写头存取光储存媒体上的缺陷区域时无参数校准被使能的典型例子示意图。图8为当光学读写头存取光储存媒体上的缺陷区域时有参数校准被使能的典型例子示意图。通过对读取通道参数和/或伺服参数实施正确的参数校准，读回信号S1可被正确译码以获得其中包含的信息。如图4所示的光储存装置300使用的参数校准方法，本领域的技术人员在读过上述段落后能够了解图6所示的参数校准方法操作。进一步的描述这里不再赘述。

参考图9，图9为图4所示的光储存装置300使用的参数校准方法的第二实施例流程图。请注意，若结果实质上相同，则无需严格按照图9所示的顺序执行步骤。参数校准操作的流程包括下述步骤：

步骤900：开始。

步骤902：检查缺陷检测结果以决定光学读写头是否将存取光储存媒体(例如光盘)上的缺陷区域。如果是，执行步骤904；否则，执行步骤902，继续监视缺陷检测结果。

步骤904：使能参数校准。

步骤906：通过指定校准参数设置校准至少一个参数，以代替参数的初始参数设置，其中至少一个参数包括读取通道参数、伺服参数或二者组合。

步骤908：检查信号质量指数是否满足预设标准。如果是，执行步骤912；否则执行步骤910。

步骤910：通过对参数指定另一校准参数设置以校准参数。执行步骤908。

步骤912：禁能参数校准。

步骤914：保持对参数的最终校准参数设置。

步骤916：检查光学读写头是否完成存取与缺陷区域相关的磁道(track)，并存取正常区域的至少一部分。如果是，执行步骤918；否则，执行步骤916继续监视。

步骤918：将参数从校准参数设置恢复为初始参数设置。其中校准参数设置由参数校准(由于存取缺陷区域而使能)所指定。执行步骤902继续监视缺陷检测结果。

图9所示的典型参数校准方法与图6所示的参数校准方法类似，主要区别在于将参数从校准参数设置恢复为初始参数设置的时机(即在参数校准之前的参数设置被使能)。参考图10和图11。图10为根据图6所示的参数校准方法相应于缺陷区域和正常区域的参数设置示意图。图11为根据图9所示的参数校准方法相应于缺陷区域和正常区域的参数设置示意图。如图10和图11所示，在光盘301表面上有指纹FP，其中磁道TK1和TK2受指纹FP影响。为简洁和清楚起见，形成于光盘301上的螺旋状磁道以多个同心磁道表示。关于图6所示的参数校准方法，校准参数设置PS1只有在光学读写头304存取指纹FP导致的缺陷区域时才有效，初始参数设置PS0在光学读写头304存取除缺陷区域外的正常区域时使用。假设光学读写头304顺序存取磁道TK1-TK3(即从内磁道TK1到外磁道TK3)，并以图10和图11中箭头符号所示的顺时针方向沿着光盘301的螺旋状磁道移动。当光学读写头304进入磁道TK1的缺陷区域时，使能参数校准以寻找最佳校准参数设置PS1；然而，一旦光学读写头304离开缺陷区域，初始参数设置PS0立即恢复。类似地，当光学读写头304进入磁道TK2的缺陷区域时，使能参数校准以寻找最佳校准参数设置PS1；然而，一旦光学读写头304离开缺陷区域，初始参数设置PS0立即恢复。因为外部磁道TK3不含任何指纹，光学读写头304存取磁道TK3时，使用初始参数设置PS0。

关于图9所示的参数校准方法，在光学读写头304离开与缺陷区域相关的磁道后，仍保持校准参数设置PS1。举例来说，当光学读写头304存取紧接着磁道TK1上缺陷区域的正常区域时，校准参数设置PS1(于光学读写头304存取磁道TK1上缺陷区域时发现)仍然有效。若缺陷检测区块312可精确检测光储存媒体的缺陷区域，可使用图6所示的参数校准方法以获得读取光储存媒体缺陷区域的最佳性能；然而，若缺陷检测区块312不能精确检测光储存媒体的缺陷区域，则可使用图9所示的参数校准方法以获得读取光储存媒体缺陷区域的最佳性能。在一个典型设计中，如图11所示校准参数设置PS1对至少一个磁道有效。由于下一个磁道TK2仍然受指纹FP影响，因此当光学读写头304存取磁道TK2(包括缺陷区域和正常区域)时不执行参数恢复。当光学读写头304进入外部磁道TK3时，因为缺陷检测区块312产生的缺陷检测结果S3将通知参数校准区块314磁道TK3上无缺陷区域，所以参数恢复被使能，将参数从校准参数设置PS1恢复为初始参数设置PS0。

请注意，图10和图11所示的例子仅为说明本发明，并非用于限制本发明。替代设计均遵从本发明的精神，并均属于本发明所主张范围。此外本领域的技术人员在读过上述段落后能够充分了解图9所示的参数校准方法操作。进一步的描述这里不再赘述。

如上所述，参数校准区块314可校准参数(例如读取通道参数和/或伺服参数)为光学读写头304存取的缺陷区域寻找最佳参数设置。在本发明的典型实施例中，当参数校准区块314被使能以校准与译码读回信号S1相关的至少一个参数时，应考虑光储存媒体上缺陷区域的缺陷幅度。举例来说，根据缺陷检测结果S3，参数校准区块314首先识别光储存媒体(例如光盘301)上缺陷区域的缺陷幅度。当缺陷幅度与第一电平值相符，参数校准区块314实施参数校准以校准与处理读回信号S1相关的第一参数；当缺陷幅度与第二电平值相符，参数校准区块314实施参数校准以校准与处理读回信号S1相关的第二参数。换句话说，被校准的参数可根据缺陷幅度动态选择。在一种替代实现中，当缺陷幅度与第一电平值相符，参数校准区块314通过第一参数设置实施参数校准以校准参数，当缺陷幅度与第二电平值相符，参数校准区块314通过第二参数设置实施参数校准以校准参数。换句话说，指定给被校准参数的参数设置可根据缺陷幅度动态选择。

当考虑缺陷幅度时，由于缺陷幅度可提供参数校准的附加信息，因此用于寻找最佳校准参数设置的校准时间可缩短。请注意，前述例子仅用于说明本发明，并非用于限制本发明。举例来说，借助信号质量指数，参数校准可使用实验-错误(try-and-error)方法或其它搜索算法以寻找最佳校准参数设置。可获得寻找最佳参数设置的相同目标。

除实施参数校准以寻找满足需求的校准参数设置外，本发明实施例也用于储存校准参数设置，以改善光储存装置(例如光盘驱动器)的读取性能，其中该校准参数设置包括与处理读回信号相关的一个或多个参数的设置值。举例来说，至少一个读取通道参数或至少一个伺服参数或二者组合的设置值可使用参数校准获得并储存于储存器中以备后面使用，其中读取通道参数例如限幅器带宽、维特比带宽、锁相环带宽、PRML靶标值、译码策略、RF信号高通滤波带宽或RF信号幅度，伺服参数例如聚焦增益或散焦设置。较佳地，可校准多个参数使光储存装置具有最佳读取性能，这也同时导致对已加载光储存媒体(例如光盘)完成初次(first-time)参数校准花费较长的时间周期。然而，由于光储存媒体的校准参数设置记录于光储存装置，当相同的光储存媒体再次加载至光储存装置时，光储存装置因此可使用储存于其中的校准参数设置改善将被译码的读回信号的信号质量。换句话说，参数校准(当读回信号的信号质量由于光储存媒体上的缺陷区域不能满足需求时，参数校准被使能以校准与自光储存媒体读取数据相关的多个参数)有可能导致观察者可察觉的播放中断。然而，获得并储存对参数的校准参数设置后，借助所储存的由先前参数校准所获得的校准参数设置，加载至光储存装置的相同光储存媒体的接续播放会变得平滑，详细操作如下所述。

图12为根据本发明另一典型实施例的光储存装置的方块示意图。光储存装置1200(例如光盘驱动器)包括光储存存取区块1202、控制区块1204、参数校准区块1206和储存设备1208。当光储存媒体(例如光盘1201)加载至光储存装置1200时，可操作光储存存取区块1202以存取记录在光盘1201上的信息。举例来说，光储存存取区块1202包括转轴马达(例如图4所示的转轴马达302)、光学读写头(例如图4所示的光学读写头304)、伺服与功率控制区块(例如图4所示的伺服与功率控制区块306)、信号合成器(例如图4所示的信号合成器322)、读取通道区块(例如图4所示的读取通道区块310)，其中转轴马达以所需旋转速率来旋转光盘1201，光学读写头发射具有特定读取功率的激光束至光盘1201并检测反射激光束，伺服与功率控制区块控制光学读写头的操作，信号合成器根据自光盘1201反射并接着由光学读写头中的光传感器(图中未显示)检测的信号产生读回信号(例如RF信号)，读取通道区块对读回信号实施高通滤波以产生已滤波读回信号并译码已滤波读回信号以获取储存于光盘1201的信息。此外，若光储存装置1200使用前述参数校准机制，光储存存取区块1202进一步包含附加组件，例如图4所示的极值追踪单元326和滤波单元328。由于光储存存取区块1202可获取储存于光盘1201的信息，本实施中的光储存存取区块1202也可自读回信号中获取光盘1201的识别信息(identification information)。举例来说，可自内容表(table of content)、控制数据区(data zone)或光盘1201的文件系统独特特征中获取识别信息。

参数校准区块1206用于实施参数校准对与处理读回信号相关的至少一个参数实施校准，以获取校准参数设置。若光储存装置1200可使用前述的参数校准机制，则参数校准区块1206可通过采用图4所示的参数校准区块314实现。

控制区块1204可经由配置当满足特定条件时(例如由于存取光盘1201上的缺陷区域使得信号质量低于可接受的水平)激活参数校准区块1206，并且光盘1201的识别信息和由参数校准区块1206为光盘1201所寻找的校准参数设置记录于储存设备1208(例如具有数据储存能力的内存设备或其它组件)。也就是说，控制区块1204将光盘1201的识别信息所指示的校准参数设置记录于储存设备1208以备后用。类似地，若光储存装置1200可使用前述的参数校准机制，则图4所示的校准控制区块316和缺陷检测区块312可于控制区块1204中实现。

图13为图12所示的光储存装置1200使用的参数校准方法第一实施例的流程图。请注意，若结果实质上相同，则无需严格按照图13所示的顺序执行步骤。参数校准操作的流程包括下述步骤：

步骤1300：开始。

步骤1302：获取光储存媒体的识别信息；

步骤1304：参考识别信息以检查是否已对光储存媒体实施过至少一次参数校准。如果是，执行步骤1306；否则，执行步骤1310。

步骤1306：根据识别信息，从储存设备加载校准参数设置。

步骤1308：根据自储存设备加载的校准参数设置，配置与处理读回信号相关的至少一个参数。执行步骤1316。

步骤1310：检查是否应当激活参数校准。如果是，执行步骤1312；否则，继续检查是否应当激活参数校准。

步骤1312：对与处理读回信号相关的至少一个参数实施参数校准，因此，为光储存媒体获取校准参数设置。

步骤1314：记录光储存媒体的识别信息所指示的校准参数设置于储存设备。

步骤1316：结束。

在多数情况下，光储存媒体的识别信息是唯一的。因此，当加载光盘1201时，控制区块1204可使用自内容表、控制数据区或光盘1201的文件系统独特特征中获取的识别信息检查参数校准区块1206是否对光盘1201实施过至少一次参数校准(步骤1302和1304)。特别地，当控制区块1204激活参数校准区块1206，对与处理读回信号相关的至少一个参数实施参数校准时，获取校准参数设置(步骤1312)，其中至少一个参数与处理由读取光盘1201获得的读回信号相关。接着，控制区块1204记录识别信息指示的校准参数设置至储存设备1208(步骤1314)。因此，通过比较光盘1201的识别信息与储存设备1208中记录的识别信息，控制区块1204能够知道参数校准区块1206之前是否已对光盘1201实施参数校准。当控制区块1204发现参数校准区块1206已对光盘1201实施过至少一次参数校准(即意味着储存设备1208应当包含光盘1201的校准参数设置)，因此控制区块1204自储存设备1208加载光盘1201的校准参数设置，并藉由自储存设备1208载入的校准参数设置配置光储存存取区块1202的一个或多个参数，而不管目前正在存取光盘1201的哪些区域或何时由于读回信号的差信号质量而需求校准参数设置，其中读回信号的差信号质量导致译码错误或较高符号错误率。举例来说，在一个实施例中，当光储存装置1200存取光盘1201的任何缺陷区域和正常区域，光储存存取区块1202使用自储存设备1208加载的校准参数设置；然而，在另一个实施例中，只有当光储存装置1200存取光盘1201的缺陷区域时，光储存存取区块1202才使用自储存设备1208加载的校准参数设置。

当控制区块1204发现参数校准区块1206还未对光盘1201实施参数校准(即意味着储存设备1208中没有光盘1201的校准参数设置)，因此控制区块1204检查参数校准是否应当被激活(步骤1304和1310)。举例来说，当光储存装置1200将存取光盘1201的缺陷区域或读回信号的信号质量较差(也就是说，发生译码错误或符号错误率高于可接受的值)，控制区块1204激活参数校准区块1206，以对与处理读回信号相关的一个或多个参数实施参数校准，据此获得校准参数设置，并且控制区块1204将光盘1201的识别信息指示的校准参数设置记录于储存设备1208(步骤1312和1314)。

若使用前述的参数校准机制，可使用图6所示步骤602以实现步骤1310，且可使用图6所示步骤604-612以实现步骤1312。在如此实施例中，一旦信号质量指数满足一个标准，则停止参数校准。接着，校准参数设置储存于储存设备以备后用。然而，步骤1310中的参数校准并不限于此典型实施例。举例来说，光储存存取区块1202包括与处理读回信号相关的N个参数P₁-P_N。参数校准区块1206可经由配置为参数P₁-P_N的中每一个寻找最优设置。在一个实施例中，控制区块1204选择参数P₁-P_N的所有最优设置作为记录至储存设备1208的校准参数设置；在一种替代实施例中，控制区块1204选择参数P₁-P_N的部分最优设置作为记录至储存设备1208的校准参数设置。举例来说，只有参数P₁、P₃和P_N-1在信号质量中具有有效改善；因此，控制区块1204只选择参数P₁、P₃和P_N-1的最优设置作为记录至储存设备1208的校准参数设置。

此外，通过检查光盘1201上相同数据区段(例如相同ECC区块或相同磁道)的信号质量(为避免信号质量错误判断)，参数校准区块1206校准与处理读回信号相关的一个或多个参数。

并且，参数校准区块1206实施参数校准的光盘区域的地址也可被记录。据此，当光盘1201再次加载至光储存装置1200时，根据选择的校准参数设置，控制区块1204配置光储存存取区块1202的一个或多个参数，其中根据光储存存取区块1202当前存取的缺陷区域的地址选择校准参数设置。举例来说，光盘1201可能具有多个缺陷区域，每个缺陷区域的地址数据和校准参数设置均记录至储存设备1208。在一种替代设计中，光盘1201实际上被分成多个碟区(disc area)，每个碟区的地址数据和校准参数设置均记录至储存设备1208。

在图13所示的典型实施例中，自储存设备1208加载的校准参数设置直接用于配置光储存存取区块1202的一个或多个参数无需再用其它的参数。本发明进一步提出一种替代设计，藉由自储存设备1208载入的校准参数设置，该替代设计初始化与处理读回信号相关的至少一个参数，实施参数校准以更新校准参数设置，并记录新的校准参数设置以更新储存设备1208中光盘1201的识别信息所指示的旧校准参数设置。因此，即使于上次的参数校准中发现的校准参数设置不是最佳的，当前的参数校准可很快找到一个较优的校准参数设置，这是因为于当前的参数校准开始时，于上次的参数校准中发现的校准参数设置可作为初始参数设置。图14为图12所示的光储存装置1200使用的参数校准方法第二实施例的流程图。请注意，若结果实质上相同，则无需严格按照图14所示的顺序执行步骤。第二种参数校准操作的流程包括下述步骤：

步骤1400：开始。

步骤1402：获取光储存媒体的识别信息。

步骤1404：参考识别信息以检查是否已对光储存媒体实施过至少一次参数校准。如果是，执行步骤1406；否则，执行步骤1410。

步骤1406：根据识别信息，从储存设备加载校准参数设置。

步骤1408：根据自储存设备加载的校准参数设置，配置与处理读回信号相关的至少一个参数。

步骤1410：检查是否应当激活参数校准。如果是，执行步骤1412；否则，继续检查是否应当激活参数校准。

步骤1412：对与处理读回信号相关的至少一个参数实施参数校准，因此，为光储存媒体获取校准参数设置。

步骤1414：记录光储存媒体的识别信息所指示的校准参数设置于储存设备。

步骤1416：结束。

本领域的技术人员在读过上述段落后能够了解图13所示的每个操作步骤。进一步的描述这里不再赘述。

简单总结，图12所示典型装置和图13、图14所示典型方法的思想为储存与处理读回信号相关的一个或多个参数的校准参数设置，因此当再次加载相同光储存媒体用于播放时可节省校准参数的时间。请注意，参数校准区块1206实施的参数校准并不仅限于上述的典型实施方式。参数校准区块1206可经由配置以使用任何可行参数校准机制，只要能够改善光储存装置1200读取性能的校准参数设置能够成功实现。更特别地，无论实际应用何种参数校准机制以获取与处理读回信号相关的一个或多个参数的校准参数设置，任何光储存装置遵从本发明精神并属于本发明范围，其中光储存装置记录光储存媒体的识别信息指示的校准参数设置于储存设备。

各种变形、修改和所述实施例各种特征的组合均属于本发明所主张的范围，本发明的权利范围应以申请专利权利要求为准。