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精确获取平板裂缝阵天线辐射缝有源导纳的方法

摘要

本发明提出的一种精确获取平板裂缝阵天线辐射缝有源导纳的方法,利用本方法可显著导纳提取的效率高,精确获取天线阵列每个缝隙有源导纳。本发明通过下述技术方案予以实现:(1)用矩量法分析计算平板裂缝阵辐射缝的场分布,根据磁场的连续性,在缝隙的上下表面建立场方程,选用Rooftop基函数和脉冲校验函数,将积分方程化成矩阵形式,求解方程可以得到缝隙处的场的分布情况;(2)通过缝隙处前向和后向散射场获得缝隙的有源导纳;(3)采用HFSS软件分别对方头和圆头缝隙进行仿真分析,得到二者之间的等效关系,由下述关系式求得方头和圆头缝隙之间长度修正因子c;(4)用求的修正因子c修正矩量法计算的有源导纳对应的圆头缝隙长度。

著录项

  • 公开/公告号CN101800360A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2010-08-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国电子科技集团公司第十研究所;

    申请/专利号CN201010100739.1

  • 发明设计人 魏旭;何海丹;杨顺平;李秀梅;

    申请日2010-01-23

  • 分类号H01Q13/10;H01Q21/00;G01R29/00;

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 610036 四川省成都市金牛区外西茶店子东街48号

  • 入库时间 2023-12-18 00:35:33

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2013-05-08

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):H01Q13/10 申请公布日:20100811 申请日:20100123

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2010-09-29

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01Q13/10 申请日:20100123

    实质审查的生效

  • 2010-08-11

    公开

    公开

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