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锂二次电池的寿命推测方法和劣化抑制方法、寿命推测器和劣化抑制器、使用它们的电池组、充电器

摘要

本发明涉及锂二次电池的寿命推测方法,其中,在伴随着充放电循环进行的过程中,至少检测2次仅以不同的循环数进行充放电时的锂二次电池的放电后的开路时的电压。接着,将各电压值中的至少2个值相对于各循环数进行作图。然后,描画通过了各作图点的圆弧,基于该圆弧的大小来推测锂二次电池的寿命。基于该寿命推测来控制锂二次电池的充电和放电,从而能控制劣化的进行。

著录项

  • 公开/公告号CN101772709A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2010-07-07

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 松下电器产业株式会社;

    申请/专利号CN200880101948.9

  • 发明设计人 宇贺治正弥;山本泰右;

    申请日2008-12-11

  • 分类号G01R31/36(20060101);

  • 代理机构72002 永新专利商标代理有限公司;

  • 代理人陈建全

  • 地址 日本大阪府

  • 入库时间 2023-12-18 00:10:00

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-01-27

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R31/36 授权公告日:20121114 终止日期:20141211 申请日:20081211

    专利权的终止

  • 2012-11-14

    授权

    授权

  • 2010-09-08

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R31/36 申请日:20081211

    实质审查的生效

  • 2010-07-07

    公开

    公开

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