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X射线荧光光谱法测定无碱玻璃配合料中总硫含量的方法

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本发明公开了一种X射线荧光光谱法测定无碱玻璃配合料中总硫含量的方法，所述测定方法包括制样、制作硫元素对应的校准曲线、测量无碱玻璃配合料样片中硫元素的X射线荧光强度并计算出无碱玻璃配合料中SO

著录项

公开/公告号CN101713752A

专利类型发明专利
公开/公告日2010-05-26

原文格式PDF
申请/专利权人巨石集团有限公司;
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申请/专利号CN200910154963.6
发明设计人张毓强;陆海泉;武永强;陈建良;许明初;
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申请日2009-12-07
分类号G01N23/223;G01N1/28;
代理机构杭州天正专利事务所有限公司;
代理人黄美娟
地址 314500 浙江省桐乡市经济开发区文华南路669号
入库时间 2023-12-17 23:57:08

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2012-06-27

发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01N23/223 公开日:20100526 申请日:20091207

发明专利申请公布后的视为撤回
2010-08-04

实质审查的生效 IPC(主分类):G01N23/223 申请日:20091207

实质审查的生效
2010-05-26

公开

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