显影辊以及包括该显影辊的电子照相处理盒和电子照相图像形成设备

摘要

本发明涉及显影辊以及包括该显影辊的电子照相处理盒和电子照相图像形成设备。本发明涉及具有能够有效抑制低分子量组分从弹性层渗出的表面层的显影辊，其能够有效赋予负带电性调色剂以高电荷，并且调色剂脱模性优良。所述显影辊具有芯轴，至少一层设置于所述芯轴上的弹性层，和设置于所述弹性层上的表面层，所述显影辊承载和输送调色剂，并用所述调色剂将在相对的感光构件上的静电潜像显影，以及所述表面层包括含Si、N、C和H的硅化合物膜，所述表面层具有特定的存在元素Si、N、C和H的总丰度和特定丰度比N/Si、C/Si和H/Si。

说明书

技术领域

本发明涉及用于电子照相图像形成设备如复印机和激光打印机中的显影辊，以及设置有该显影辊的电子照相处理盒和电子照相图像形成设备。

背景技术

作为将存在于感光鼓上的静电潜像使用调色剂可视化的显影方法，已知使承载调色剂的显影辊与感光鼓接触的接触显影法。显影辊需要具有赋予调色剂以良好摩擦电荷的功能。在接触显影法中，负带电性单组分显影剂通常在多种情况下使用。于是，日本专利申请特开2000-181218和日本专利申请特开2003-122108公开了在显影辊表面层中使用含氮树脂涂层的显影辊作为可以有效赋予负带电性调色剂以高电荷的显影辊。

此外，建议设置有弹性层的显影辊以保证在与感光鼓的接触部上的辊隙宽度(nip width)。然而，在具有该弹性层的显影辊中，不可避免地包含在弹性层中的低分子量物质有时候渗出至表面。已渗出的低分子量物质粘附至接触显影辊的感光鼓表面，因此有时候影响电子照相图像等级和感光鼓寿命。于是，日本专利申请特开2005-215485公开了设置屏蔽从弹性层渗出的渗出材料的屏蔽层的显影剂承载体。

发明内容

本发明人进行了关于在日本专利申请特开2000-181218和日本专利申请特开2003-122108中描述的上述发明的研究，结果发现：在实际使用时含氮树脂层带正电，并且该表面显示强粘着(固着)性，因此负带电性调色剂趋向于在树脂层表面上沉积。已粘附至显影辊表面的调色剂通过形成电子照相图像的重复过程而逐渐劣化，并且有时熔融结合至显影辊表面。具有熔融结合至其表面上的调色剂的显影辊有时降低通过使用该显影辊形成的电子照相图像的等级。

然后，本发明人已认识到：为了提高根据接触显影的电子照相图像的等级(degree)并且进一步提高根据接触显影的电子照相图像的稳定性，理想地是开发设置有此类表面层的显影辊以满足至少以下三点：

1.能够有效抑制低分子量组分从弹性层渗出。

2.能够有效赋予负带电性调色剂以高电荷；和

3.具有调色剂脱模性优良的表面。

因此，本发明涉及提供设置有能够满足上述要求1至3的表面层的显影辊。此外，本发明涉及提供能够稳定地形成高品质电子照相图像的电子照相处理盒和电子照像图像形成设备。

本发明人进行了深入的研究以解决上述问题，结果发现指定用于形成表面层的材料是有效的，并完成了本发明。

根据本发明的一方面，提供显影辊，所述显影辊包括芯轴、至少一层设置在芯轴上的弹性层和设置在弹性层上的表面层，其承载和输送调色剂，以及将在相对的感光构件上的静电潜像用该调色剂显影，其中该表面层包括包含Si、N、C和H的硅化合物膜；以及在表面层中，通过X射线光电子能谱法和弹性反冲探测分析测量，Si、N、C和H的存在元素总数相对于全部元素的比例为90.00％以上，并且N与Si的丰度比N/Si为0.20以上至1.00以下，C与Si的丰度比C/Si为0.30以上至1.50以下，以及H与Si的丰度比H/Si为0.15以上至0.35以下。

根据本发明的另一方面，提供电子照相处理盒，所述电子照相处理盒能够可拆卸地安装在电子照相图像形成设备的主体上，其中该处理盒具有如上所述的显影辊。

根据本发明的又一方面，提供电子照相图像形成设备，所述电子照相图像形成设备具有用于保持静电潜像的感光构件和能够与该感光构件接触配置的显影辊，其中该显影辊为如上所述的显影辊。

本发明提供具有能够防止低分子量物质从弹性层渗出的表面层的显影辊，并且即使当在对接触构件施压的状态下放置很长时间时也能够形成稳定图像。本发明还提供能够赋予要带负电的调色剂以高电荷。此外，本发明提供能够抑制成膜发生并能够形成稳定图像的显影辊。

本发明进一步的特征由以下示例性实施方案的说明参考附图而变得显而易见。

附图说明

图1为示出显影辊的结构实例的示意性截面图。

图2为示出用于伸长模量测量的试验件采集(collecting)方法的说明图。

图3为等离子体CVD设备的示意图。

图4为示出用于测量显影辊电流值的方法的说明图。

图5为示出具有安装于其上的根据本发明的显影辊的显影设备的一个实例的示意图。

图6为示出具有安装于其上的根据本发明的显影辊的处理盒的示意图。

具体实施方式

图1为根据本发明的显影辊1沿垂直于轴向方向的截面图。

显影辊1具有作为导电性材料如金属的成型体的芯轴11、依次叠置于其上的弹性层12和表面层13。

显影辊1通常以将电偏压施加至其或接地的状态来使用。

<芯轴>

芯轴11为支承构件，并且至少其表面可为导电性的，是导电性材料。出于这种原因，待用于芯轴11周面的材料为充分带电性的，以将预定电压施加至要形成于其上的弹性层12，具体包括例如金属或合金如Al、Cu合金和SUS，和由镀Cr或镀Ni层等构成的材料。芯轴11的外径通常可设定在4mm至10mm范围内。

<弹性层>

弹性层12通过使用橡胶和树脂之一作为原料的主要组分而形成。可将通常用于显影辊的各种橡胶用作原料主要组分的橡胶。具体地，作为实例列举以下：乙烯-丙烯-二烯共聚物橡胶(EPDM)、丁腈橡胶(NBR)、氯丁橡胶(CR)、天然橡胶(NR)、异戊二烯橡胶(IR)、丁苯橡胶(SBR)、氟橡胶、硅橡胶、表氯醇橡胶、氢化NBR、聚硫橡胶和聚氨酯橡胶。

此外，原料中主要组分树脂主要为热塑性树脂，具体包括以下：聚乙烯树脂，如低密度聚乙烯(LDPE)、高密度聚乙烯(HDPE)、直链低密度聚乙烯(LLDPE)和乙烯-乙酸乙烯酯共聚物树脂(EVA)；聚丙烯树脂；聚碳酸酯树脂；聚苯乙烯树脂；ABS树脂；聚酰亚胺；聚酯树脂如聚对苯二甲酸乙二酯和聚对苯二甲酸丁二酯；氟树脂；和聚酰胺树脂如聚酰胺6、聚酰胺66和MXD6。

这些橡胶和树脂可单独使用或以其两种以上混合形式使用。其中，液体硅橡胶和液体聚氨酯橡胶可以用于在弹性层中使用的材料，这是因为赋予弹性层12以适度低硬度和足够的变形回复力(deformation-recovery force)是重要的。可特别使用加成反应交联型液体硅橡胶，这是因为具有良好的加工性、高的尺寸精度稳定性和在固化反应中不产生反应副产物等的优良生产性。

此外，弹性层材料包括对于弹性层本身要求的功能所需要的组分如导电剂和非导电性填料，以及用于形成橡胶和树脂的成型体的各种添加剂组分如交联剂、催化剂和分散促进剂，其可适当共混。

导电剂包括根据离子导电机理起作用的离子导电性物质，和根据电子导电机理起作用的导电性赋予剂，可使用离子导电性物质和导电性赋予剂之一或两者。

根据电子导电机理起作用的导电性赋予剂包括以下：金属如铝、钯、铁、铜和银的粉末与纤维；金属化合物如硫化铜、硫化锌、氧化锡、氧化锑、氧化铟和氧化钼的粉末；金属如锌、铝、金、银、铜、铬、钴、铁、铅、铂和铑的粉末；已进行掺杂处理以具有导电性的金属氧化物如锑掺杂的氧化锡、铌掺杂的氧化钛和铝掺杂的氧化锌；炭黑型导电剂如乙炔黑、科琴黑(商品名)、PAN型炭黑、沥青型炭黑和碳纳米管。

根据离子导电机理起作用的离子导电性物质包括以下：碱金属盐如LiCF₃SO₃、NaClO₄、LiClO₄、LiAsF₆、LiBF₄、NaSCN、KSCN和NaCl；铵盐如NH₄Cl、NH₄SO₄和NH₄NO₃；碱土金属盐如Ca(ClO₄)₂和Ba(ClO₄)₂；这些盐与多元醇如1，4-丁二醇、乙二醇、聚乙二醇、丙二醇和聚丙二醇或与它们的衍生物的配合物；这些盐与单醇醚(monool)如乙二醇单甲醚、乙二醇单乙醚、聚乙二醇单甲醚和聚乙二醇单乙醚的配合物；阳离子表面活性剂如季铵盐；阴离子表面活性剂如脂族硫酸盐、烷基硫酸盐和烷基磷酸盐；和两性表面活性剂如甜菜碱。

这些导电剂可单独使用或以其两种以上混合形式使用。其中，可以使用炭黑型导电剂，这是因为易于可以相对低成本获得并且还能够赋予弹性层以良好导电性而不依赖于弹性层原料中主要组分的类型。常规使用的装置例如辊捏合机、班伯里混炼机、球磨机、砂磨机、油漆搅拌机和双轴挤出机，可根据原料主要组分适当使用作为用于将导电剂细粉分散至原料主要组分中的装置。非导电性填料包括填料、增量剂和氧化抑制剂。填料和增量剂包括以下：二氧化硅、石英微粉、硅藻土、氧化锌、碱式碳酸镁、活性碳酸钙、硅酸镁、硅酸铝、二氧化钛、滑石、云母粉、硫酸铝、硫酸钙、硫酸钡、玻璃纤维、有机补强剂和有机填料。这些填料和增量剂的表面可用有机硅化合物处理以在其上获得疏水性。

可以适当选择和使用已知的用于聚合物化合物的氧化抑制剂例如受阻酚类氧化抑制剂、苯酚类氧化抑制剂、磷类氧化抑制剂、胺类氧化抑制剂和硫类氧化抑制剂作为氧化抑制剂。

已知的材料可以用作加工助剂。具体地，可以使用例如脂肪酸如硬脂酸和油酸以及脂肪酸的金属盐和酯。

弹性层可以由硅橡胶例如通过使用液体硅橡胶作为主要试剂、聚有机氢硅氧烷作为交联组分和铂类催化剂以将橡胶组分彼此交联而制备。

弹性层厚度可为至少0.5mm以上，进一步可为1.0mm以上，以使弹性层能够实现保证在弹性层和感光鼓之间的辊隙宽度的功能。弹性层的具体厚度可根据橡胶硬度来适当确定以达到目标辊隙宽度，但实际上，弹性层厚度通常设定在6.0mm以下。

弹性层12能够通过常规已知挤出法和注射成型法等来形成，但是形成弹性层的方法不特别限定。弹性层可以由两层或多层构成。

弹性层的伸长模量(elongation modulus)可为1.0MPa以上至100.0MPa以下，进一步可为1.0MPa以上至30.0MP以下。当弹性层的伸长模量设定在1.0MPa以上时，即使显影辊例如在长时间接触接触构件的状态下放置，显影辊也能抑制其本身的接触部不产生压接永久变形。此外，当将弹性层的伸长模量设定在100MPa以下时，显影辊能够防止在显影辊和接触构件之间的接触宽度变得过小，并能够防止施加至在接触构件之间通过的调色剂的压力变得过大。因此，显影辊能够抑制使用中的调色剂不产生外部添加剂(出于赋予调色剂以带电性和流动性等目的，沉积在调色剂表面上的细粉)的脱离或包埋，不导致在调色剂中的蜡等渗出，以及不导致成膜。

在本发明中的伸长模量根据描述于日本工业标准(JapaneseIndustrial Standard)(JIS)K7113(1995)中的方法来测量。然而，在本发明中，如图2所示，将样品以具有长度100mm且相应于辊的一半周长从显影辊1切出，并用作测量伸长模量用试验件40。

将万能拉伸试验机″TENSILON RTC-1250A″(商品名，由ORIENTEC CO.，LTD.制造)用于测量，将测量环境设定在温度20±3℃和湿度60±10％RH下。然后，通过在卡盘中设定试验件的每端10mm，设定卡盘间长度为80mm和设定测量速度为20mm/min进行测量，并计算伸长模量。从五个试样的值计算平均值，并将其定义为试验件的伸长模量。

<表面层>

表面层13由包含元素如Si、N、C和H作为主要组分的硅化合物膜制成。在硅化合物膜中，Si、N、C和H的存在元素总数在全部元素中占90.00％以上，N与Si的丰度比(N/Si)、C与Si的丰度比(C/Si)以及H与Si的丰度比(H/Si)如下。

N/Si为0.20以上至1.00以下，C/Si为0.30以上至1.50以下，以及H/Si为0.15以上至0.35以下。

当N/Si小于0.20时，难以赋予调色剂以适当的电荷，所以起雾易于发生。当N/Si大于1.00时，显影辊获得过高的赋予调色剂以摩擦电荷的性质。因此，调色剂过度带电，换言之，导致过带电(charge-up)，且调色剂不均匀地供给至显影辊表面，且由此不均匀地受到刮擦，因此易于发生所谓的重影现象。

如果C/Si低于0.30，表面层会变硬和变脆，当已接触感光鼓等时，易于在其中导致裂纹。结果，包含在弹性层中的低分子量物质渗出，并且有时粘附至感光鼓。此外，当C/Si大于1.50时，表面层至弹性层的粘附性降低，并且表面层易于从弹性层剥离。此外，当H/Si小于0.15时，表面层还趋于硬化。此外，当H/Si超过0.35时，表面层的强度减低，其导致表面层从弹性层脱落。

在表面层中元素的丰度比以以下方式获得。

除轻元素之外的全部元素的丰度比可以通过X射线光电子能谱法使用X射线光电子能谱仪(商品名：Quantum 2000；由ULVAC-PHI，Inc.制造)测量。然后，源自在作为显影辊表面层的硅化合物膜的表面上的Si的2p轨道与N和C的1s轨道的结合能的峰通过使用AlK_α(1.487keV)作为X射线源来测量。由各个峰计算各元素的丰度比，N/Si和C/Si由所得丰度来确定。

另一方面，轻元素如氢原子可通过使用中等能量离子束分析仪(商品名：HRBS500；由Kobe Steel，Ltd.制造)的ERDA模式(弹性反冲探测分析)来测量。轻元素在以下条件下测量：已加速至500keV的He离子以75度入射角入射至显影辊表面层上，并检测已通过入射He离子反冲的氢浓度。

Si、N、C和H相对于包含在表面层中的全部元素的总丰度为90.00％以上。当总丰度小于90.00％时，硅化合物没有形成硅化合物膜，并且以岛状散布的状态存在于弹性层表面上。因此，硅化合物不能抑制包含在弹性层中的低分子量物质渗出至显影辊表面。

此外，构成表面层的硅化合物膜还可以包含除上述各元素(Si、N、C和H)之外的其它元素。具体地，硅化合物膜从其稳定性角度能够包含氧原子。当氧相对于全部元素以比例计占1.00％以上时，硅化合物膜的耐久性变得更加令人满意，并且表面层能够更加有效地抑制从弹性层的剥离。

用于形成表面层的方法例如包括以下：湿涂法(浸涂法、喷涂法、辊涂法和环涂法等)；物理气相沉积(PVD)法(真空气相沉积法、溅射法和离子电镀法等)；化学气相沉积(CVD)法(等离子体CVD法、热CVD法和激光CVD法等)。

上述方法中，特别是采用等离子体CVD法。这是因为获得的表面层(硅化合物膜)显示特别良好的均匀性和特别良好的对弹性层的粘附性。从处理消耗时间短、在低温下处理和设备简单等角度，等离子体CVD法比其他方法更有利。

以下现将描述通过等离子体CVD法形成表面层的方法。图3为用于通过该等离子体CVD法形成表面层的膜形成设备的说明图。

该膜形成设备包括真空室41、相互平行设置的两个平板电极42、原料气体钢瓶和原料液体罐43、原料供给单元44、用于排出在该室内气体的单元45、用于供给高频功率的高频供给电源46和用于旋转弹性辊48的电机47。

根据本发明的显影辊能够根据以下步骤同时使用所述设备来制造。

步骤(1)：将芯轴11的周面已用弹性层12覆盖的弹性辊48放置在平板电极42之间，并通过驱动电机47沿周向旋转弹性辊48，以使要获得的硅化合物膜(表面层)均匀。

步骤(2)：通过操作排气单元45将真空室41的内部抽真空。

步骤(3)：将原料气体从原料供给单元44导入，将高频功率从高频供给电源46供给至平板电极42以产生等离子体，从而形成硅化合物膜。

步骤(4)：经过预定时间后，停止供应原料气体和高频功率，将空气或氮气导入(漏入)真空室41中直至达到大气压，然后，取出弹性辊48，具体是显影辊1，其弹性层12的周面已用表面层13覆盖。

具有由硅化合物膜制成的表面层的显影辊能够通过进行上述步骤(1)至(4)来制造。另外，如果许多弹性辊48可以放置在同一等离子体气氛中，它们可同时通过等离子体CVD来处理。

在与气体如惰性气体和氧化气体共存或不存在气体如惰性气体和氧化气体的情况下，通常将气体或气化有机硅化合物与如果需要的烃化合物一起引入真空室41中作为原料气体。

此处，有机硅化合物包括例如以下：

1，1，3，3-四甲基二硅氧烷、六甲基二硅氧烷、六甲基二硅氮烷、乙烯基三甲基硅烷、甲基三甲氧基硅烷、六甲基二硅烷、甲基硅烷、二甲基硅烷、三甲基硅烷、四甲基硅烷、二乙基硅烷、丙基硅烷、苯基硅烷、乙烯基三乙氧基硅烷、乙烯基三甲氧基硅烷、四甲氧基硅烷、四乙氧基硅烷、苯基三甲氧基硅烷、甲基三乙氧基硅烷和八甲基环四硅氧烷。

上述有机硅化合物中，可以使用1，1，3，3-四甲基二硅氧烷、六甲基二硅氧烷和四甲基硅烷，这是因为易于操作。此外，可以更多地使用六甲基二硅氮烷作为含氮材料。

硅烷源不限定于有机硅化合物。也能够使用硅烷、氨基硅烷和硅氮烷。

当有机硅化合物等为气态时，将其原样使用。当有机硅化合物等在室温条件下为液体时，将它们加热、汽化并通过惰性气体输送，或通过惰性气体鼓泡并输送以使用。此外，当有机硅化合物等在室温下为固体时，将它们加热、汽化和通过惰性气体输送以使用。此外，原料物质的汽化可以通过处于减压状态来加速。

与上述原料气体一起，或除了原料气体之外，含氮气体(N₂O、N₂和氨等)或含氧气体(氧、CO₂和CO等)也能引入至真空室中。此外，能够用于上述方法的惰性气体包括氦和氩。

表面层中Si、N、C和H的丰度可以通过控制要引入的原料气体的共混比、当原料气体引入时的流速和要供给的高频功率来控制。

此外，用于采用湿法形成硅化合物膜(表面层)的方法可以采用将无机聚合物前体溶液和具有羟基的聚合物溶液的混合物均匀施涂在弹性层上，然后施加固化手段如加热或紫外线照射至涂布膜上的方法。

此处，在将用于表面层的原料混合物施涂至弹性层上之前，弹性层表面可进行紫外线照射、电子束照射或活化处理如等离子体处理，以使该混合物可以均匀施涂。

以该方式形成的表面层膜厚度可以为15nm以上至5,000nm以下，进一步可为300nm以上至3,000nm以下。当将表面层膜厚度设定在5,000nm以下时，生产时间没有变得过长，弹性层的温度在生产期间没有过度升高，并且形成弹性层时的形状得以保持，即使是弹性层由具有低熔点的材料如热塑性树脂制成时。因此，当将显影辊用于打印时，所得图像几乎不导致其中浓度不均匀的不良效果。

在以上描述中，将形成的表面层的膜厚度定义为通过以下方式获得的值的平均值：通过使用薄膜测量仪器(商品名：F20-EXR；由Filmetrics，Inc.制造)测量总共9个点，所述9个点为：对于从端部沿长度方向等间隔的各3个点，沿显影辊周向等间隔的3个点。

在根据本发明的显影辊中，当将DC 50V施加至旋转的显影辊时，通过使用图4示出的设备测量的电流值可以为5μA以上至5,000μA以下，进一步可以为10μA以上和500μA以下。当电流值为5μA以上时，当在感光构件上用调色剂显影图像时可以容易地获得足以显影的显影偏压，并且所得图像能够具有足够的图像浓度。当电流值为5,000μA以下时，即使在感光构件表面上形成针孔，也几乎不发生偏压泄漏，并且横向条纹几乎不出现在得到的图像上。

现将描述使用在图4中示出的设备测量显影辊电流值的方法。显影辊1的外周面通过将500g负载施加至显影辊1的芯轴的各暴露部而接触由SUS制成且具有直径40mm的圆筒形电极51。将处于该状态的圆筒形电极51旋转，并将显影辊1通过连带旋转(associated rotation)以24rpm的速度沿周向旋转。当旋转变得稳定时，将电压从直流电源52施加至芯轴，并将50V电压施加于芯轴和圆筒形电极之间。此时的环境为20℃和50％RH。通过一周旋转的显影辊1的电流值用电流表53测量，并将电流值的平均值定义为电流值。在本说明书中，以此方式测量的电流值称为″显影辊电流值″。考虑到保持用于调色剂运动适当和均一的电场强度，适当且均匀地控制该显影辊电流值是重要的。

将根据本发明的显影辊用作图像形成设备如复印机、传真和打印机的显影辊，也用作在处理盒类型的图像形成设备中的处理盒的显影辊。

具有安装于其上的根据本发明的显影辊的彩色电子照相图像形成设备的一个实例示于图5中。以下将参考图5描述彩色电子照相图像形成设备。

示于图5中的彩色电子照相图像形成设备具有图像形成部10a、10b、10c和10d，其分别为了黄色Y、品红M、青色C和黑色BK彩色调色剂以纵列形式设置。图像形成部10a至10d各自基本具有相同的结构。各图像形成部设置有感光鼓21，其起到潜像承载构件的作用，并沿箭头方向旋转。围绕感光鼓21设置用于使感光鼓21充电的充电构件26、用于用激光光25照射已充电的感光鼓21以在其上形成静电潜像的光曝光单元、将调色剂供给至感光鼓21并显影已形成在感光鼓21上的静电潜像的显影设备22。此外，设置转印构件，其具有用于将存在于感光鼓21上的调色剂图像从记录介质36背面通过从偏压电源32施加至其的电压转印在记录介质36如纸上的转印辊31，所述记录介质36通过一对进纸辊37进给并通过输送带34输送。输送带34通过驱动辊30、从动辊35和张力辊33悬挂，并这样控制以致与图像形成部同步运动并输送记录介质36，以使形成在各个图像形成部的调色剂图像顺序叠置并转印至记录介质36上。记录介质36通过在输送带34右前方设置的吸取辊38的操作而静电吸附至输送带34并被输送。

此外，彩色电子照相图像形成设备设置有用于通过加热等定影已叠置和转印至记录介质36上的调色剂图像的定影设备29，和用于从彩色电子照相形成设备排出具有形成于其上的图像的记录介质的输送设备(未示出)。将记录介质36通过剥离设备39的操作从输送带34剥离，并送至定影设备29。

另一方面，图像形成部10设置具有清洁刮板28和废调色剂容器27的清洁构件，所述清洁刮板28去除未转印至记录介质而残留在感光鼓21上的转印残留调色剂以清洁表面，所述废调色剂容器27用于在其中贮存已从感光鼓刮除的调色剂。另外，感光鼓21、充电构件26、显影设备22、清洁刮板28和废调色剂容器27也能一体化入可脱离地形成在电子照相图像形成设备主体上的处理盒中。

安装在上述图像形成部10中的显影设备22设置有其中容纳起到调色剂23功能的负带电性单组分显影剂的调色剂容器24，并设置有显影辊1。配置显影辊1以阻塞调色剂容器24的开口，并使得在从调色剂容器24中暴露的部分中与感光鼓21相对。调色剂容器24设置有辊形调色剂施涂构件7和调色剂量调节刮板9，所述调色剂施涂构件7接触显影辊1并将调色剂供给至显影辊1，所述调色剂量调节刮板9使得供给至显影辊1的调色剂形成薄膜并赋予调色剂以摩擦电荷。调色剂施涂构件7的具体结构包括例如其中泡沫海绵或聚氨酯泡沫设置在轴体上的结构和具有其中例如人造丝或聚酰胺等纤维植入的毛刷结构的结构。可使用以上结构，因为在显影辊1上残留的调色剂可以被充分地去除。调色剂施涂构件7可以如此配置以使得具有在显影辊1上的适合的接触宽度，并能够在接触部沿与显影辊1相反的方向旋转。

如上所述，根据本发明的处理盒从电子照相图像形成设备主体可拆卸，并包括根据本发明的显影辊。此处，单色图像形成设备用处理盒的一个实例的示意图示于图6中，将显影辊1在接触感光鼓21和调色剂施涂构件7的状态下安装。可将在调色剂容器24中容纳的调色剂23通过调色剂施涂构件7供给至显影辊1。在这种情况下，调色剂量通过调色剂量调节刮板9来调节。另一方面，将静电潜像通过激光光25形成在用充电构件26充电的感光鼓21上，并将保持的静电潜像通过已承载于显影辊1上并通过显影辊1输送的调色剂转化为可视图像，以成为调色剂图像。将在感光鼓21上的调色剂图像转印至记录介质如纸上。然后，将残留在感光鼓21上的调色剂刮掉，并将其通过清洁刮板28刮除至废调色剂容器27中。

实施例

以下将通过示出实施例的方式更加详细地描述本发明，但本发明不限于此。

此外，除了以下描述的那些之外，除非另有说明，否则所用试剂的纯度为99.5％以上。

(1)弹性层用橡胶原料

液体硅橡胶：使用在两端具有乙烯基的二甲基聚硅氧烷(其中乙烯基含量为0.15质量％)，和在两端具有Si-H基的二甲基硅氧烷-甲基氢硅氧烷共聚物(其中与Si原子键合的H的含量为0.30％)。使用氯铂酸和二乙烯基四甲基二硅氧烷的配合物(0.5质量％)作为固化催化剂。

·烯烃类弹性体″Santoprene 8211-25″(商品名，由Advanced Elastomer Systems Japan Ltd.制造)，

·烯烃类弹性体″Santoprene 8211-45″(商品名，由Advanced Elastomer Systems Japan Ltd.制造)，

·低密度聚乙烯(LDPE)″NOVATEC LD LJ902″(商品名，由Japan Polyethylene Corporation.制造)，

·LDPE″NOVATEC LD LJ802″(商品名，由JapanPolyethylene Corporation.制造)，和

·乙烯-乙酸乙烯酯共聚物(EVA)″EVAFLEX EV45LX″(商品名，由DUPONT-MITSUI POLYCHEMICALS CO.，LTD.制造)。

(2)弹性层用其它组分；

·石英粉″Min-USil″(商品名，由Pennsylvania Glass SandCorporation制造)，

·炭黑″DENKA BLACK″(商品名，由DENKI KAGAKUKOGYO KABUSHIKI KAISHA制造，为粉末状产品)，和

MT炭黑″Thermax N990″(商品名，由Cancarb Ltd.制造)。

生产例1(弹性辊(A)的生产)

将7质量份石英粉″Min-USil″(商品名)和10质量份炭黑″DENKA BLACK″(商品名)的填料与100质量份在两端具有乙烯基的二甲基聚硅氧烷(其中乙烯基含量为0.15质量％)共混。将该共混材料通过使用行星式混合机混合和消泡，并将其用作液体硅橡胶的基础材料。溶液(A)通过将起到固化催化剂作用的氯铂酸和二乙烯基四甲基二硅氧烷的配合物0.5质量份与该基础材料共混来获得。此外，溶液(B)通过将1.5质量份在其两端具有Si-H基团的二甲基硅氧烷-甲基氢硅氧烷共聚物(其中键合至Si原子的H含量为0.30％)与上述基础材料共混来获得。

另一方面，由SUM材料制成的圆柱形芯轴具有直径6mm和长度250mm，和具有用底漆处理的表面，将其配置在圆筒形模具的中心。混合物溶液使用静态混合器以1∶1质量比通过混合上述溶液(A)和溶液(B)来制备，并将其注入上述圆筒形模具的内部。然后，将混合物溶液通过在130℃温度下加热该圆筒形模具20分钟来固化，此外在200℃温度下后固化4小时，获得具有长度240mm和厚度3mm的弹性层的弹性辊(A)。

生产例2(弹性辊(B)的生产)

将以下材料通过使用具有直径30mm和L/D(螺杆有效长度/螺杆直径)32的双螺杆挤出机捏合和造粒，并获得树脂组合物。

·聚烯烃类弹性体″Santoprene 8211-25″(商品名)：100质量份，和

·MT炭黑″Thermax Floform N990″(商品名)：40质量份。

将由上述树脂组合物形成的树脂层通过十字头(crosshead)挤出成型上述树脂组合物来形成在芯轴(具有直径6mm和长度250mm)的周面上。通过切割该树脂层端部并进一步用旋转研磨石研磨树脂层部，获得具有厚度3mm的弹性层的弹性辊(B)。

生产例3(弹性辊(C)的生产)

除了使用烯烃类弹性体″Santoprene 8211-45″(商品名)代替聚烯烃类弹性体″Santoprene 8211-25″(商品名)之外，以与生产例2的类似方式获得弹性辊C。

生产例4(弹性辊(D)的生产)

除了使用LDPE″NOVATEC LD LJ902″(商品名)代替聚烯烃类弹性体″Santoprene 8211-25″(商品名)之外，以与上述生产例2的类似方式获得弹性辊(D)。

生产例5(弹性辊(E)的生产)

除了使用LDPE″NOVATEC LD LJ802″(商品名)代替聚烯烃类弹性体″Santoprene 8211-25″(商品名)之外，以与生产例2的类似方式获得弹性辊(E)。

生产例6(弹性辊(F)的生产)

除了使用EVA″EVAFLEX EV45LX″(商品名)代替聚烯烃类弹性体″Santoprene 8211-25″(商品名)之外，以与生产例2的类似方式获得弹性辊(F)。

实施例1

将在生产例1中获得的弹性辊(A)放置在图3所示的等离子体CVD法设备中，然后将真空室中的压力通过使用真空泵降低至0Pa(表压，下文中相同)。然后，将20sccm六甲基二硅氮烷蒸气和200sccm氮的混合气体作为原料气体引入至真空室中，并将真空室中的压力调节至41Pa。在压力变恒定之后，将具有频率13.56MHz的200W电功率从高频电源供给至平板电极，从而在电极之间产生等离子体。将安装在真空室中的弹性辊(A)在10rpm下旋转并处理300分钟。在处理完成之后，停止电源供给，排出在真空室中残留的原料气体，并将空气引入真空室中直至内部压力达到大气压。然后，将具有在其上形成的表面层的显影辊取出。

作为已通过使用X射线光电子能谱仪和弹性反冲粒子探测器测定存在元素Si、N、C和H相对于在所得显影辊表面层中存在的全部元素的总丰度的结果，总丰度为94.67％和氧丰度为5.33％。此外，N/Si、C/Si和H/Si分别为0.75、0.90和0.28。

此外，作为已通过使用薄膜测量设备″F20-EXR″(商品名)测量显影辊表面层膜厚度的结果，膜厚度为1,652nm。在上述描述中，在对于各沿其长度方向等分的三个点，沿显影辊周向等分的三个点，总共九个点处测量膜厚度，确定所得值的平均值作为膜厚度。

此外，显影辊的电流值通过在设定在20℃温度和50％RH湿度的环境下，将电压50V施加至显影辊，以24rpm的速度旋转显影辊来测量，并得到该值为280μA。

用于测量伸长模量的试验件40由显影辊制备，以具有长度100mm，并对应于根据图2所示辊的周长的一半。具有表面层的弹性层(下文中称为″弹性层+表面层″)的伸长模量通过使用该试验件测量，并得到其为1.0MPa。在上述描述中，通过使用万能拉伸试验机″TENSILON RTC-1250A″(商品名)在具有温度20±3℃和湿度60％±10％RH的测量环境中测量五个试样的伸长模量。

实施例2

除了在表面层形成中，将20sccm六甲基二硅氮烷蒸气、100sccm氮和50sccm氧的混合气体作为原料气体引入至真空室中，将在该真空室中的压力调节至38Pa之外，通过在与实施例1中相同的条件下进行处理来获得显影辊。

作为已通过使用X射线光电子能谱仪和弹性反冲粒子探测器测定存在元素Si、N、C和H相对于在所得显影辊表面上存在的全部元素的总丰度的结果，总丰度为90.12％和氧丰度为9.88％。N/Si、C/Si和H/Si分别为1.00、0.30和0.19。此外，该表面层膜厚度为2,153nm，且显影辊的电流值为354μA。此外，弹性层+表面层的伸长模量为1.0MPa。

实施例3

除了在表面层形成中，将20sccm六甲基二硅氮烷蒸气作为原料气体引入至真空室中，将在该真空室中的压力调节至4Pa之外，通过在与实施例1中相同的条件下处理显影辊来获得显影辊。

作为已通过使用X射线光电子能谱仪和弹性反冲粒子探测器测定存在元素Si、N、C和H相对于在所得显影辊表面上存在的全部元素的总丰度的结果，总丰度为95.37％和氧丰度为4.63％。N/Si、C/Si和H/Si分别为0.26、1.43和0.15。此外，该表面层膜厚度为1,696nm，且显影辊的电流值为12μA。此外，弹性层+表面层的伸长模量为1.0MPa。

实施例4

除了在表面层形成中，将20sccm六甲基二硅氮烷蒸气和200sccm氨的混合气体作为原料气体引入至真空室中，将在该真空室中的压力调节至42Pa之外，通过在与实施例1中相同的条件下进行处理来获得处理的显影辊。

作为已通过使用X射线光电子能谱仪和弹性反冲粒子探测器测定存在元素Si、N、C和H相对于在所得显影辊表面上存在的全部元素的总丰度的结果，总丰度为98.12％和氧丰度为1.88％。N/Si、C/Si和H/Si分别为0.75、0.93和0.35。此外，该表面层膜厚度为2,243nm，且显影辊的电流值为112μA。此外，弹性层+表面层的伸长模量为1.0MPa。

实施例5

除了在表面层形成中，将电功率150W从高频电源供给至平板电极以在电极之间产生等离子体之外，通过在与实施例3中相同的条件下进行处理来获得显影辊。

作为已通过使用X射线光电子能谱仪和弹性反冲粒子探测器测定存在元素Si、N、C和H相对于在所得显影辊表面上存在的全部元素的总丰度的结果，总丰度为93.37％和氧丰度为6.63％。N/Si、C/Si和H/Si分别为0.43、1.50和0.35。此外，该表面层膜厚度为985nm，且显影辊的电流值为243μA。此外，弹性层+表面层的伸长模量为1.0MPa。

实施例6

除了在表面层形成中，将用于等离子体CVD处理的时间设定在150秒之外，通过在与实施例3中相同的条件下进行处理来获得显影辊。

作为已通过使用X射线光电子能谱仪和弹性反冲粒子探测器测定存在元素Si、N、C和H相对于在所得显影辊表面上存在的全部元素的总丰度的结果，总丰度为91.85％和氧丰度为8.15％。N/Si、C/Si和H/Si分别为0.20、1.50和0.21。此外，该表面层膜厚度为562nm，且显影辊的电流值为442μA。此外，弹性层+表面层的伸长模量为1.0MPa。

实施例7

除了在表面层形成中，将用于等离子体CVD处理的时间设定在600秒之外，通过在与实施例1中相同的条件下进行处理来获得显影辊。

作为已通过使用X射线光电子能谱仪和弹性反冲粒子探测器测定存在元素Si、N、C和H相对于在所得显影辊表面上存在的全部元素的总丰度的结果，总丰度为99.87％和氧丰度为0.13％。N/Si、C/Si和H/Si分别为0.76、0.94和0.31。此外，该表面层膜厚度为2,989nm，且显影辊的电流值为8μA。此外，弹性层+表面层的伸长模量为1.0MPa。

实施例8

除了在表面层形成中，将弹性辊(A)变为在生产例2中生产的弹性辊(B)，将电功率150W从高频电源供给至平板电极以在电极之间产生等离子体，并将用于等离子体CVD处理的时间设定在30秒之外，通过在与实施例4中的相同条件下进行处理来获得显影辊。

作为已通过使用X射线光电子能谱仪和弹性反冲粒子探测器测定存在元素Si、N、C和H相对于在所得显影辊的表面上存在的全部元素的总丰度的结果，总丰度为98.14％和氧丰度为1.86％。N/Si、C/Si和H/Si分别为0.83、1.47和0.24。此外，该表面层膜厚度为15nm，且显影辊的电流值为5,000μA。此外，弹性层+表面层的伸长模量为10.0MPa。

实施例9

除了在表面层形成中，将弹性辊(A)变为在生产例3中生产的弹性辊(C)，和将用于等离子体CVD处理的时间设定在600秒之外，通过在与实施例4中相同的条件下进行处理来获得显影辊。

作为已通过使用X射线光电子能谱仪和弹性反冲粒子探测器测定存在元素Si、N、C和H相对于在所得显影辊表面上存在的全部元素的总丰度的结果，总丰度为99.17％和氧丰度为0.83％。N/Si、C/Si和H/Si分别为0.78、0.94和0.26。此外，该表面层膜厚度为4,997nm，且显影辊的电流值为5μA。此外，弹性层+表面层的伸长模量为30.0MPa。

实施例10

除了将弹性辊(A)变为在生产例4中生产的弹性辊(D)之外，通过在与实施例1中相同的条件下进行处理来获得显影辊。

作为已通过使用X射线光电子能谱仪和弹性反冲粒子探测器测定存在元素Si、N、C和H相对于在所得显影辊表面上存在的全部元素的总丰度的结果，总丰度为90.97％和氧丰度为9.03％。N/Si、C/Si和H/Si分别为0.69、1.00和0.33。此外，该表面层膜厚度为300nm，且显影辊的电流值为1,110μA。此外，弹性层+表面层的伸长模量为100.0MPa。

实施例11

除了将弹性辊(A)变为在生产例5中生产的弹性辊(E)之外，通过在与实施例4中相同的条件下进行处理来获得显影辊。

作为已通过使用X射线光电子能谱仪和弹性反冲粒子探测器测定存在元素Si、N、C和H相对于在所得显影辊表面上存在的全部元素的总丰度的结果，总丰度为98.00％和氧丰度为2.00％。N/Si、C/Si和H/Si分别为0.80、0.97和0.33。此外，该表面层膜厚度为2,118nm，且显影辊的电流值为886μA。此外，弹性层+表面层的伸长模量为110.0MPa。

实施例12

除了将弹性辊(A)变为在生产例6中生产的弹性辊(F)之外，通过在与实施例1中相同的条件下进行处理来获得显影辊。

作为已通过使用X射线光电子能谱仪和弹性反冲粒子探测器测定存在元素Si、N、C和H相对于在所得显影辊表面上存在的全部元素的总丰度的结果，总丰度为97.53％和氧丰度为2.47％。N/Si、C/Si和H/Si分别为0.86、0.97和0.30。此外，该表面层膜厚度为1,822nm，且显影辊的电流值为367μA。此外，弹性层+表面层的伸长模量为0.7MPa。

实施例13

除了在表面层形成中，将40sccm六甲基二硅氮烷蒸气和200sccm氮的混合气体作为原料气体引入至真空室中，将在该真空室中的压力调节至45Pa，此外将用于等离子体CVD处理的时间设定为500秒之外，通过在与实施例1中相同的条件下进行处理来获得显影辊。

作为已通过使用X射线光电子能谱仪和弹性反冲粒子探测器测定存在元素Si、N、C和H相对于在所得显影辊表面上存在的全部元素的总丰度的结果，总丰度为90.78％和氧丰度为9.22％。N/Si、C/Si和H/Si分别为1.00、0.74和0.33。此外，该表面层膜厚度为5,523nm，且显影辊的电流值为2μA。此外，弹性层+表面层的伸长模量为1.0MPa。

实施例14

除了在表面层形成中，将10sccm六甲基二硅氮烷蒸气和100sccm氨的混合气体引入至真空室中，将在该真空室中的压力调节至18Pa，此外将电功率150W从高频电源供给至平板电极，将用于等离子体CVD处理的时间设定为30秒之外，通过在与实施例1中相同的条件下进行处理来获得显影辊。

作为已通过使用X射线光电子能谱仪和弹性反冲粒子探测器测定存在元素Si、N、C和H相对于在所得显影辊表面上存在的全部元素的总丰度的结果，总丰度为99.18％和氧丰度为0.82％。N/Si、C/Si和H/Si分别为0.65、1.50和0.35。此外，该表面层膜厚度为13nm，且显影辊的电流值为5,180μA。此外，弹性层+表面层的伸长模量为1.0MPa。

比较例1

除了在表面层形成中，将电功率150W从高频电源供给至平板电极之外，通过在与实施例1中相同的条件下进行处理来获得显影辊。

作为已通过使用X射线光电子能谱仪和弹性反冲粒子探测器测定存在元素Si、N、C和H相对于在所得显影辊表面上存在的全部元素的总丰度的结果，总丰度为98.81％和氧丰度为1.19％。N/Si、C/Si和H/Si分别为0.26、1.59和0.37。此外，该表面层膜厚度为1,238nm，且显影辊的电流值为568μA。此外，弹性层+表面层的伸长模量为1.0MPa。

比较例2

除了在表面层形成中，将20sccm六甲基二硅氮烷蒸气和200sccm氮的混合气体作为原料气体引入至真空室中，将在该真空室中的压力调节至41Pa之外，通过在与实施例1中相同的条件下进行处理来获得显影辊。

作为已通过使用X射线光电子能谱仪和弹性反冲粒子探测器测定存在元素Si、N、C和H相对于在所得显影辊表面上存在的全部元素的总丰度的结果，总丰度为85.45％和氧丰度为14.55％。N/Si、C/Si和H/Si分别为1.05、1.46和0.49。此外，该表面层膜厚度为5,834nm，且显影辊的电流值为3μA。此外，弹性层+表面层的伸长模量为1.0MPa。

比较例3

除了在表面层形成中，将20sccm六甲基二硅氮烷蒸气和400sccm氨的混合气体作为原料气体引入至真空室中，将在该真空室中的压力调节至65Pa之外，通过在与实施例1中相同的条件下进行处理来获得显影辊。

作为已通过使用X射线光电子能谱仪和弹性反冲粒子探测器测定存在元素Si、N、C和H相对于在所得显影辊表面上存在的全部元素的总丰度的结果，总丰度为98.88％和氧丰度为1.12％。N/Si、C/Si和H/Si分别为1.44、1.19和0.27。此外，该表面层膜厚度为1,135nm，且显影辊的电流值为369μA。此外，弹性层+表面层的伸长模量为1.0MPa。

比较例4

除了在表面层形成中，将20sccm六甲基二硅氮烷蒸气和50sccm氧的混合气体作为原料气体引入至真空室中，将在该真空室中的压力调节至10Pa之外，通过在与实施例1中相同的条件下进行处理来获得显影辊。

作为已通过使用X射线光电子能谱仪和弹性反冲粒子探测器测定存在元素Si、N、C和H相对于在所得显影辊表面上存在的全部元素的总丰度的结果，总丰度为76.28％和氧丰度为23.72％。N/Si、C/Si和H/Si分别为0.54、0.26和0.14。此外，该表面层膜厚度为1,365nm，且显影辊的电流值为543μA。此外，弹性层+表面层的伸长模量为1.0MPa。

比较例5

除了在表面层形成中，将20sccm六甲基二硅氧烷蒸气和50sccm氨的混合气体作为原料气体引入至真空室中，将在该真空室中的压力调节至10Pa之外，通过在与实施例1中相同的条件下进行处理来获得显影辊。

作为已通过使用X射线光电子能谱仪和弹性反冲粒子探测器测定存在元素Si、N、C和H相对于在所得显影辊表面上存在的全部元素的总丰度的结果，总丰度为90.55％和氧丰度为9.45％。N/Si、C/Si和H/Si分别为0.12、1.21和0.35。此外，该表面层膜厚度为886nm，且显影辊的电流值为485μA。此外，弹性层+表面层的伸长模量为1.0MPa。

在各显影辊中各原子丰度，Si、N、C和H的总丰度等全部示于表1中，物理性质的评价结果集中示于表2中。

表1

表2

  膜厚度  (nm)  伸长模量  (MPa)  电流值  (μA)  实施例1  1652  1.0  280  实施例2  2153  1.0  354  实施例3  1696  1.0  12  实施例4  2243  1.0  112  实施例5  985  1.0  243  实施例6  562  1.0  442  实施例7  2989  1.0  8  实施例8  15  10.0  5000  实施例9  4997  30.0  5  实施例10  300  100.0  1110  实施例11  2118  110.0  886  实施例12  1822  0.7  367  实施例13  5523  1.0  2  实施例14  13  1.0  5180  比较例1  1238  1.0  568  比较例2  5834  1.0  3  比较例3  1135  1.0  369  比较例4  1365  1.0  543  比较例5  886  1.0  485

<评价1>

将在上述实施例和比较例中获得的各显影辊装入电子照相激光打印机″Color Laser Jet3600″(商品名，由Hewlett-PackardCompany制造)的处理盒(cartridge)中作为显影辊。将静电潜像通过使用该处理盒用调色剂显影，并将电子照相图像在温度25℃和湿度50％RH的环境中输出。之后，将所得图像进行以下评价。评价结果示于表3中。此处使用的激光打印机″Color LaserJet3600″为用于沿其纵向输出A4纸的机器，其在16ppm的输出速度下输出记录介质。设定显影辊至调色剂调节构件的接触压力和进入量以使在显影辊上承载的调色剂量为0.35mg/cm²。通过使用黑色BK调色剂，在已输出初始实心黑色图像和半色调图像之后，然后已进行6,000张复制件的耐久性试验之后，利用实心黑色图像和实心白色图像(solid white image)输出来评价图像。

(起雾)

通过光伏反射浓度仪″TC-6DS/A″(商品名，由TokyoDenshoku Co.，Ltd.制造)，对6,000张输出后得到的实心白色图像测量反射浓度。将在实心白色图像和未打印部分之间的反射浓度差定义为起雾(％)，其根据以下标准来评价：

″A″：为小于1.5％。

″B″：为1.5％以上至小于3.0％。

″C″：为3.0％以上。

(重影)

重影水平通过目视评价在6,000张输出之后获得的重影评价图案(在一张图像内顺序形成15mm见方的实心图像和半色调图像的图案)上，在半色调部是否发生浓度不均匀来测定。

″A″：未导致重影。

″B″：导致轻微重影，但对于图像没有问题。

″C″：导致重影。

(渗出性)

通过以下方式测试根据本发明的表面层在抑制低分子量物质从显影辊中的弹性层渗出的作用。

将在各实施例和比较例中制备的新显影辊装入处理盒中，并将该处理盒在已使显影辊接触调色剂量调节刮板和感光鼓的状态下在40℃和95％RH环境中放置30天。其后，将放置之后的处理盒装入激光打印机中，并输出实心黑色图像和半色调图像。目视观察输出图像，根据以下标准评价是否存在已从弹性层渗出的物质粘附至感光鼓导致的在电子照相图像中的缺陷发生以及缺陷发生的程度。

″无″：没有由于渗出材料的粘附导致图像缺陷。

″轻微″：虽然能够观察到由于渗出材料粘附导致的轻微图像缺陷，但实际上没有导致问题。

″存在″：由于渗出材料的粘附导致可观察到的图像缺陷。

(表面层剥离)

当在将用于评价的所有图像输出后，用数字显微镜″VHX-500″(商品名，由KEYENCE CORPORATION制造)观察显影辊表面时，确认是否能够观察到表面层的剥离，并根据以下标准评价剥离度。

″无″：未导致表面层剥离。

″轻微″：虽然观察到表面层的轻微剥离，但实际上没有导致问题。

″存在″：导致可观察到的表面层剥离。

表3

  起雾  重影  渗出性  表面层剥离  实施例1  A  A  无  无  实施例2  A  B  轻微  无  实施例3  A  A  轻微  无  实施例4  A  A  无  轻微  实施例5  A  A  无  轻微  实施例6  B  A  无  轻微  实施例7  A  A  无  无  实施例8  A  A  无  无  实施例9  A  A  无  无  实施例10  A  A  无  无  实施例11  A  A  无  无  实施例12  A  A  无  无  实施例13  A  B  无  无  实施例14  A  A  无  轻微  比较例1  A  A  无  存在  比较例2  A  C  存在  存在  比较例3  A  C  无  无  比较例4  A  A  存在  无  比较例5  C  A  无  无

如表3所示，从起雾和重影的结果发现：根据本发明的显影辊具有能够赋予调色剂以适合的电荷的表面层。从渗出性的结果还发现：根据本发明的显影辊具有在弹性层上均匀形成的表面层，此外该形成的表面层具有充分的挠曲性。此外，从表面层的剥离结果发现：根据本发明的显影辊具有优良的粘附性和在长时间使用中不导致问题。

<评价2>

接着，将在上述实施例和比较例中获得的显影辊进一步进行以下评价。将评价结果示于表4中。

(成膜)

在输出用于评价的所有图像之后，观察显影辊表面，并根据以下标准，由导致成膜的状态和对于用于评价的最终图像的观察结果来评价成膜。

″A″：未导致在显影辊上成膜。

″B″：在图像中没有导致问题，但导致在显影辊上轻微成膜。

″C″：由于已粘附在显影辊上的调色剂的影响导致图像上的模糊。

(浓度不均匀性)

对于初始实心黑色图像和半色调图像目视观察浓度不均匀性，并根据以下标准来评价。另外，浓度不均匀性在半色调图像中是最容易观察到的，在实心黑色图像中相对容易观察到。

″A″：显示良好的图像，而没有导致在任何图像中目视可观察到的浓度不均匀性。

″B″：导致在半色调图像中可观察到的浓度不均匀性，但在实心黑色图像中没有导致可观察到的浓度不均匀性。

″C″：导致在任何图像中可观察到的浓度不均匀性。

(图像浓度)

初始实心黑色图像和已输出6,000张之后获得的实心黑色图像的浓度通过使用Macbeth浓度计″Macbeth Color CheckerRD-918″(商品名，由Macbeth制造)来测量，并根据以下标准来评价：

″A″：在任何图像中为1.3以上。

″B″：在一种图像中为1.3以上，而在另一图像上为小于1.3。

″C″：在任何图像上为小于1.3。

(横向条纹(transverse streak))

目视确定在初始实心黑色图像和半色调图像中是否形成对应于在先前制备的感光鼓中形成的针孔位置的强烈的横向条纹，并根据以下标准评价等级：

″无″：未导致可观察到的横向条纹。

″轻微″：虽然轻微形成可观察到的横向条纹，但在图像中没有导致问题。

″存在″：导致可观察到的横向条纹。

(定形性(Setting Properties))

将显影辊装入处理盒中，并在与调色剂调节构件和感光鼓接触的状态下在40℃和95％RH的环境中放置30天。其后，将已放置的处理盒装入激光打印机中，并输出实心黑色图像和半色调图像。目视观察第一张，并根据以下标准评价定形性(是否存在由于与调色剂调节构件接触引起的痕迹导致的横向条纹发生)：

″无″：不导致基于接触痕迹的横向条纹。

″轻微″：虽然轻微地观察到由于接触痕迹引起的横向条纹，但对于图像不导致问题。

″存在″：导致可观察到的由于接触痕迹引起的横向条纹。

将上述评价项目结果示于表4中。

表4

  成膜  浓度不均匀性  图像浓度  横向条纹  定形性  实施例1  A  A  A  A  A  实施例2  A  A  A  A  A  实施例3  A  A  A  A  A  实施例4  A  A  A  A  A  实施例5  A  A  A  A  A  实施例6  A  A  A  A  A  实施例7  A  A  A  A  A  实施例8  B  A  A  B  A  实施例9  A  B  B  A  A  实施例10  B  A  A  A  A  实施例11  C  A  A  A  A  实施例12  A  A  A  A  C  实施例13  A  C  C  A  A  实施例14  C  A  A  C  A  比较例1  A  A  A  A  A  比较例2  A  C  C  A  A  比较例3  A  A  A  A  A  比较例4  A  A  A  A  A  比较例5  A  A  A  A  A

尽管本发明已经参考示例性实施方案进行描述，但应理解本发明不限于公开的示例性实施方案。以下权利要求书的范围符合最宽的解释，从而包括所有的此类改进和等同的结构和功能。